上海納騰儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第4年

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  • 三維測(cè)量輪廓儀

    從產(chǎn)品研發(fā)到質(zhì)量控制，該系統(tǒng)可以用于從超光滑鏡面到粗糙面的各種樣品進(jìn)行表面微觀測(cè)量分析和粗糙度質(zhì)量評(píng)價(jià)。白光干涉原理。

    型號(hào)： 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/6 12:04:16 對(duì)比
    三維測(cè)量輪廓白光干涉粗糙度
  • 經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀 可測(cè)樣

    Profilm 3D是一款兼具垂直掃描干涉 (VSI)和高精確度相移干涉 (PSI) 技術(shù)的經(jīng)濟(jì)三維光學(xué)輪廓儀，其可以用于多種用途的高精度表面測(cè)量。我司有此機(jī)器...

    型號(hào)： Profilm 3... 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/6/17 17:08:46 對(duì)比
    輪廓儀Profilm非接觸臺(tái)階粗糙度
  • 三維光學(xué)輪廓儀

    非接觸式優(yōu)點(diǎn)就是測(cè)量裝置探測(cè)部分不與被測(cè)表面的直接接觸，保護(hù)了測(cè)量裝置，同時(shí)避免了與測(cè)量裝置直接接觸引入的測(cè)量誤差。Zeta-20三維光學(xué)輪廓儀集成了六種光學(xué)計(jì)...

    型號(hào)： Zeta-20 所在地：上海市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/6/17 17:00:12 對(duì)比
    Zeta-20輪廓儀非接觸
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