詳細介紹
e+h雷達物位計發(fā)射功率很低的極短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候,的微處理技術(shù)和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸,可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試。在固體測量中的應(yīng)用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果非常好,料倉內(nèi)的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。
恩格斯豪斯雷達物位計FMR240系列連續(xù)的非接觸式物位測量儀表。
經(jīng)濟的4 - 20 mA 兩線制技術(shù),適用于危險區(qū)域。
Micropilot M FMR240系可用于對液體、漿料、淤泥和固了進行連續(xù)的非接觸式物位測量。測量不受介質(zhì)改變、溫度變化、氣層或蒸汽的影響。FMR240具有小尺寸的40mm(1½") 喇叭天線,非常適合于小型容器中的物位測量,其測量精度可達±3 mm (±0.12 in).
恩格斯豪斯雷達物位計FMR240系列優(yōu)點
經(jīng)濟的兩線制技術(shù):
是差壓、浮子和浮筒式物位計的可靠替代品。
采用兩線制技術(shù),有效的降低布線成本,且易于實現(xiàn)與現(xiàn)有系統(tǒng)的集成
非接觸式測量
測量幾乎不受介質(zhì)特性影響.
通過數(shù)文引導式菜單輕松進行現(xiàn)場操作.
通過Endress+Hauser的操作軟件便于進行儀表調(diào)試、文件編制和故障診斷
頻率范圍采用C波段
支持HART 或PROFIBUS PA以及FF基金會現(xiàn)場總線協(xié)議
用于物位監(jiān)測(MIN, MAX) ,符合 IEC 61508/IEC 61511-1標準的要求,通過了SIL 2認證
恩格斯豪斯雷達物位計測量條件:
注意事項l 測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算,但在特殊情況下,若罐低為凹型或錐形,當物位低于此點時無法進行測量。
l 若介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時,罐低可見,此時為保證測量精度,建議將零點定在低高度為C 的位置。
l 理論上測量達到天線*的位置是可能的,但是考慮到腐蝕及粘附的影響,測量范圍的終值應(yīng)距離天線的*至少100mm。
l 對于過溢保護,可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。
l zui小測量范圍與天線有關(guān)。
l 隨濃度不同,泡沫既可以吸收微波,又可以將其反射,但在一定的條件下是可以進行測量的。
E+H導波雷達物位計的微波脈沖沿著一根纜、棒或包含一根棒的同軸套管運行,接觸到被測介質(zhì)后,微波脈沖被反射回來,并被電子部件接收,并分析計算其運行時間。微處理器識別物位回波,分析計算后將它轉(zhuǎn)換成物位信號給出。由于測量原理簡單,可以不帶料調(diào)整,從而節(jié)省了大量調(diào)試費用。測量纜或棒可以截短,使之更加適應(yīng)現(xiàn)場的應(yīng)用。對于蒸汽不敏感,即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下,測量精度也不受到影響。不受介質(zhì)特性變化的影響,被測介質(zhì)的密度變化或介電常數(shù)的變化不會影響測量精度。粘附:沒有問題,在測量探頭或容器壁上粘附介質(zhì)不會影響測量結(jié)果。容器內(nèi)安裝物如果采用同軸套管式的測量*不受容器內(nèi)安裝物的影響,不需要特殊調(diào)試??梢蕴峁┎煌问降奶筋^用于不同應(yīng)用:纜式,用于測量液體介質(zhì)或重量大的固體介質(zhì),量程可達60米;棒式,用于測量液體介質(zhì)或重量輕的固體介質(zhì),量程可達6米;同軸套管,用于測量低黏度的介質(zhì),不受過程條件的影響,量程可達6米。
e+h雷達物位計采用微波脈沖的測量方法,并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常,波束能量低,可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi),對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大,有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害,還具有不受介質(zhì)比重的影響,不受介電常數(shù)變化的影響,不需要現(xiàn)場校調(diào)等優(yōu)點,不論是對工業(yè)需要,還是對顧客經(jīng)濟實惠的考慮,都是不錯的選擇。