TESCAN MAGNA 掃描電子顯微鏡

TESCAN MAGNA 掃描電子顯微鏡  是一款功能極其強(qiáng)大的分析儀器，可用于表征納米材料的表面以及進(jìn)行微觀分析。 TESCAN MAGNA采用 Triglav™ 型 SEM 鏡筒，具有超高的分辨率，在低電壓下尤為明顯；鏡筒內(nèi)探測(cè)器系統(tǒng)具有電子信號(hào)過(guò)濾能力，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度。此外， TESCAN MAGNA 配備肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)軌蛱峁└哌_(dá) 400 nA 的束流，同時(shí) Triglav™型 SEM 鏡筒所具備的出色性能和高穩(wěn)定性，為微分析和長(zhǎng)耗時(shí)樣品的分析應(yīng)用提供了很好的條件。

TESCAN MAGNA 低電壓下的優(yōu)異性能和所能獲得的各種圖像襯度，使得它非常適用于不導(dǎo)電樣品的成像，如陶瓷、無(wú)涂層生物樣品，以及在半導(dǎo)體工業(yè)和新材料研究中應(yīng)用越來(lái)越普遍的光敏樣品。 TESCAN MAGNA  使用了全新的 TESCAN Essence™ 軟件，用戶界面友好，可以滿足各類(lèi)應(yīng)用需求，可定制的布局以及自動(dòng)化的樣品制備功能，大限度地提升了操作便捷性和工作效率

表征納米材料的解決方案
TESCAN *的 Triglav™型 SEM 鏡筒具有三物鏡系統(tǒng) TriLens™ ，與同類(lèi)設(shè)備相比功能更多樣化。UH-resolution 物鏡提供的超高分辨率非常適合于形貌細(xì)節(jié)觀察，使研究人員能夠更好的分析納米級(jí)樣品。全新的高分辨 Analytical 物鏡可實(shí)現(xiàn)無(wú)漏磁成像，是磁性樣品觀察和分析（EDS, EBSD）的理想選擇。第三個(gè)物鏡可以實(shí)現(xiàn)多種模式觀測(cè)，并對(duì)束斑形狀進(jìn)行優(yōu)化，進(jìn)而改善成像和分析性能。

                       江浙滬                                         川渝

                       江浙滬                                         川渝