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平行平晶，平面平晶
平行平晶，平面平晶簡(jiǎn)介:平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
功能:平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列，每個(gè)系列各分六組，每組四塊。
簡(jiǎn)介:平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
功能:平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
| 序號(hào) | 名稱 | 型號(hào)規(guī)格 | 單位 | 數(shù)量 | 等級(jí) |
| 1 | 平面平晶 | φ30×15 | 塊 | 1 | 一級(jí) |
| 2 | 平面平晶 | φ45×15 | 塊 | 1 | 一級(jí)、二級(jí) |
| 3 | 平面平晶 | φ60×20 | 塊 | 1 | 一級(jí)、二級(jí) |
| 4 | 平面平晶 | φ80×20 | 塊 | 1 | 一級(jí)、二級(jí) |
| 5 | 平面平晶 | φ100×25 | 塊 | 1 | 一級(jí)、二級(jí) |
| 注：特殊規(guī)格可定做 | |||||
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| 6 | 平行平晶 | 0－25 | 4塊/組 | 1 | |
| 7 | 平行平晶 | 25－50 | 4塊/組 | 1 | |
| 8 | 平行平晶 | 50－75 | 4塊/組 | 1 | |
| 9 | 平行平晶 | 75－100 | 4塊/組 | 1 | |