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方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀

時間:2013-1-10閱讀:272
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方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀  型號:HAD-WSP-51

HAD-WSP-51數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。也可測柔性導(dǎo)電薄膜和玻璃等硬基底上導(dǎo)電膜的方塊電阻(簡稱方阻),換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。

便攜式四探針檢測儀  型號:HAD-WSP-51本測試儀可贈設(shè)電池供電,適合手持式變動場合操作!

儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用旋鈕輸入;具有零位、滿度自校能;自動轉(zhuǎn)換量程;測試探頭采用耐磨碳化鎢探針制成,故定位準確、游移率小、壽命長;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。

便攜式四探針檢測儀  型號:HAD-WSP-51三、基本參數(shù)

1. 測量范圍、分辨率

電    阻:     1.0×10-2 ~ 2000 Ω,    分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10  Ω

電 阻 率:     1.0×10-3~ 2000 Ω-cm  分辨率0.1×10-2 ~ 0.1  Ω-cm

方塊電阻:     1.0×10-3 ~ 2000Ω/□  分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10  Ω/□ 

2. 可測半導(dǎo)體材料尺寸(手持式)

直        徑:  測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,其他方式不限.

長(或)度:  測試臺直接測試方式 H≤160mm,    其他方式不限.

3. 量程劃分及誤差等

量程

2.000

200.0

20.00

2.000

200.0

kΩ-cm/□

Ω-cm/□

mΩ-cm/□

基本誤差

±1%FSB±2LSB

±1.5%FSB

±4LSB

便攜式四探針檢測儀  型號:HAD-WSP-514) 適配器作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電

5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm

凈   重:≤0.5kg

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