恒奧德教您涂層測(cè)厚儀的選型

選型

用戶可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀，磁性測(cè)厚儀和渦測(cè)厚儀般測(cè)量的厚度適用0-5毫米，這類(lèi)儀器又分探頭與主機(jī)體型，探頭與主機(jī)分離型，前者操作便捷，后者適用于測(cè)非平面的外形。更厚的致密材質(zhì)材料要用聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè)，測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線上面電鍍的金，銀等金屬的厚度。

兩用型

儀器由德，集合了磁性測(cè)厚儀和渦測(cè)厚儀兩種儀器的能，可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。如:

* 鋼鐵上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。

* 鋁、鎂材料上陽(yáng)氧化膜的厚度。

* 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

* 鋁、銅、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度。

* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。

儀器符合家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957，可用于檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。

儀器點(diǎn)

* 采用雙能內(nèi)置式探頭，自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料，并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式行測(cè)量。

* 符合人體程學(xué)的雙顯示屏結(jié)構(gòu)，可以在何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù)。

* 采用手機(jī)菜單式能選擇方式，操作十分簡(jiǎn)便。

* 可設(shè)定上下限值，測(cè)量結(jié)果出或符合上下限數(shù)值時(shí)，儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。

* 穩(wěn)定性，通常不校正便可長(zhǎng)期使用。

規(guī)格

量 程: 0~2000μm ,

電 源: 兩節(jié)5號(hào)電池

標(biāo)準(zhǔn)配置

常規(guī)型

對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等，在有關(guān)家和際標(biāo)準(zhǔn)中稱(chēng)為覆層(coating)。

覆層厚度測(cè)量已成為業(yè)、表面程的重要環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的手段。為使產(chǎn)品際化，我出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱(chēng)重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦測(cè)量法等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

隨著的日益步，別是近年來(lái)引入微機(jī)后，采用磁性法和渦法的測(cè)厚儀向微型、智能、、度、實(shí)用化的方向了步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，度可達(dá)到1%，有了大幅度的提。它適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是業(yè)和科研使用zui廣泛的測(cè)厚儀器。

采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)作經(jīng)濟(jì)地行。