北京恒奧德儀器儀表有限公司
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共焦面掃描干涉儀/掃描干涉儀

時間:2012-7-21閱讀:939
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共焦面掃描干涉儀/掃描干涉儀  型號:HAD-RL-SP

、實(shí)驗簡介
      共焦面掃描干涉儀是種分辨率的光譜分析儀器。它別適合分析激光輸出模譜結(jié)構(gòu),監(jiān)控單頻激光輸出和探測鎖相效應(yīng),也可用來分析光譜線輪廓、細(xì)結(jié)構(gòu)和同位素位移。
二、儀器配置與參數(shù)
 
儀器標(biāo):
     1.使用波長:632.8nm
     2. 自由光譜區(qū):2500MHz
     3. 細(xì)常數(shù):>100;>200
     4. 探測器帶寬:1.0MHz
 
鋸齒波電源標(biāo):
    1. 頻率:5~100Hz 可調(diào)
    2. 幅度:0~150V 可調(diào)
    3. 偏置電壓:0~150V可調(diào)
    4. 線形:<10%

 

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     :/51760331/51717696
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       : 李
     地址    : 北京市海淀區(qū)阜城路42號院中裕商務(wù)花園6C-211
     傳真    :
         :hadgs2009
         :http://www.51658042.com. http://www.had200911.cn
             : http://had200911.b2b.hc360.com .  54pc.com/netshow/20100104193745/       
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