塞規(guī)現(xiàn)貨 返回列表頁

一．  塞規(guī)現(xiàn)貨?主題內(nèi)容與適用范圍： 

本標準適用于外購和自制的光滑塞規(guī)的檢定。
 二．  塞規(guī)現(xiàn)貨技術要求
 1. 標準塞規(guī)是指尺寸公差等級為IT0～IT2的孔用定值量具。 

2. 當尺寸公差小于等于0.001毫米時，圓度和圓柱度誤差應在其尺寸公差范圍內(nèi)。 當尺寸公差小于等于0.002毫米時，圓度和圓柱度誤差應小于等于0.001毫米。 當尺寸公差大于0.002毫米時，圓度和圓柱度誤差為塞規(guī)尺寸公差的50%。

三．   ?檢定要求和檢定方法
 1． 外觀 

1.1. 要求：測量面不應有銹跡、毛刺、黑斑、劃痕等缺陷。使用中的不應有明顯影響外觀

和使用質(zhì)量的缺陷。標志尺寸以mm為單位，應正確、清楚。
 1.2. 檢定方法：目力觀察。 
2． 硬度 
2.1 要求： 

測量面的硬度不低于HRC60。
 2.2 檢定方法 

用洛氏硬度計對自制的新塞規(guī)進行抽樣檢定，外購的不進行檢定。 
3． 表面粗糙度
 3.1 要求： 

表面粗糙度Razui大允許值為0.05μm。 
3.2 檢定方法 

用表面粗糙度比較樣板進行比較檢定。當有爭議時用表面粗糙度檢定儀檢定。
 4． 圓度和圓柱度 

4.1      圓度和圓柱度的要求： 

見技術要求2。
 4.2     檢定方法： 

       選擇刀口測帽，用立式激光測長儀直接測量，或用立式光學計用4等量塊比較測量，其圓度、圓柱度由測得的zui大尺寸與zui小尺寸之差來確定。圓柱度在測量面全長不少于3個位置測量，園度在同一長度位置上不少于2點測量。