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目錄:上海保圣實業(yè)發(fā)展有限公司>>常用探頭>> 質構儀探頭-食品探頭 TA/MPT

質構儀探頭-食品探頭 TA/MPT
  • 質構儀探頭-食品探頭 TA/MPT
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時間:2025-03-02 12:09:19瀏覽次數:1181評價

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產地類別 國產 價格區(qū)間 面議
應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品/農產品,化工,生物產業(yè)
質構儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成,樣品可自動滾入缺口進入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒,并對刺破強度和穿刺力進行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品,可獲得硬度、破裂強度等參數。

質構儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成,樣品可自動滾入缺口進入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒,并對刺破強度和穿刺力進行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品,可獲得硬度、破裂強度等參數。

質構儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成,樣品可自動滾入缺口進入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒,并對刺破強度和穿刺力進行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品,可獲得硬度、破裂強度等參數。

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該裝置由環(huán)繞錐體的18個鋸齒狀缺口組成,樣品可自動滾入缺口進入測試位置。穿透實驗可穿透整個豆粒,并對刺破強度和穿刺力進行測量還可以用于測量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品,可獲得硬度、破裂強度等參數。

 

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