粗糙度儀測(cè)量平臺(tái)

粗糙度儀測(cè)量平臺(tái)TA610

• 齒條升降，立柱可以隨意轉(zhuǎn)動(dòng)，用來(lái)
  測(cè)量不容易放置的工件，可提高測(cè)量精度
• 花崗巖平臺(tái)平面度：00級(jí)|平面公差值3μm
• 花崗巖平臺(tái)尺寸：400×250×70mm
• 垂直升降高度：270mm
• 垂直升降微調(diào)量：20mm
• 

  TA620

  • 絲桿升降，平臺(tái)上設(shè)置V型槽，用來(lái)測(cè)
    量形狀較小的工件，可提高測(cè)量精度
  • 花崗巖平臺(tái)平面度：00級(jí)|平面公差值3μm
  • 花崗巖平臺(tái)尺寸：400×250×70mm
  • 垂直升降高度：300±1mm
  • 升降回程誤差：≤手輪旋轉(zhuǎn)1/6圈
  • 

    TA650|TR300

    • 垂直方向上的升降高度：300±1mm
      微調(diào)由儀器上的可調(diào)支架完成
    • 垂直方向上的旋轉(zhuǎn)角度：±45°
    • 回程誤差：不大于手輪的1/6圈
    • 平臺(tái)的平面度：00級(jí)|平面公差值3μm
    • 平臺(tái)尺寸：600×420×80 mm
    • 總高度：695 mm
    •