EDX系列x射線測(cè)厚儀可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專(zhuān)門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
EDX系列x射線測(cè)厚儀性能特點(diǎn):
1、上照式
2、測(cè)試組件可升降
3、高精度移動(dòng)平臺(tái)
4、小準(zhǔn)直器
5、高分辨率探頭
6、可視化操作
7、自動(dòng)定位高度
8、自動(dòng)尋找光斑
9、鼠標(biāo)定位測(cè)試點(diǎn)
10、良好的射線屏蔽
11、超大樣品腔設(shè)計(jì)
12、測(cè)試口安全防護(hù)
技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)。
一次可同時(shí)分析zui多24個(gè)元素。
分析檢出限可達(dá)1ppm。
分析含量一般為1ppm到99.9%。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%。
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1%。
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
標(biāo)準(zhǔn)配置:
開(kāi)放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin
探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域:
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。