產(chǎn)品展示
BX-Y1228A半自動(dòng)四探針觸屏測試儀
公司名稱：
更新時(shí)間：
所 在 地：
生產(chǎn)地址：
瀏覽次數(shù)：
北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司
2024-05-15 09:06:04
北京市
北京
1882
【簡單介紹】
品牌
其他品牌
產(chǎn)地類別
國產(chǎn)
類型
其他
應(yīng)用領(lǐng)域
環(huán)保,綜合
半自動(dòng)四探針觸屏測試儀方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測模式或手動(dòng)點(diǎn)測模式，同一位置的重復(fù)測試或多點(diǎn)的面電阻測量，報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.
【詳細(xì)說明】
關(guān)鍵詞：
雙電四探針測試儀 四探針測試儀 數(shù)字四探針測試儀 探針測試機(jī) 半自動(dòng)四探針測試儀
產(chǎn)品用途：半自動(dòng)四探針觸屏測試儀
四點(diǎn)探針標(biāo)準(zhǔn)測試方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結(jié)果的影響；參照 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測量方塊電阻、電阻率、電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實(shí)現(xiàn)自動(dòng)點(diǎn)測模式或手動(dòng)點(diǎn)測模式，同一位置的重復(fù)測試或多點(diǎn)的面電阻測量，報(bào)表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析；提供標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻件.
儀器特點(diǎn)：半自動(dòng)四探針觸屏測試儀
晶圓、 非晶硅 /微晶硅和導(dǎo)電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴(kuò)散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結(jié)擴(kuò)散片；新型電極設(shè)計(jì)，如電鍍銅電阻測量等 ； 半導(dǎo)體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池， LCD，OLED，觸摸屏 等 .
技術(shù)參數(shù)：
規(guī)格型號(hào)
BX-Y1228A
1.電阻
10^-6～2×10^5Ω
2.方塊電阻
10^-6～2×10^5Ω/□
3.電阻率
10-7～2×106Ω-cm
4.測試電流
1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
5.電流精度
±0.1%
6.電阻精度
≤0.3%
7.PC軟件操作
PC軟件界面：電阻、電阻率、電導(dǎo)率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、 數(shù)據(jù)管理分析：過程數(shù)據(jù)，大、小值，均值，方差，變異系數(shù)，樣品編號(hào)，測試點(diǎn)數(shù)統(tǒng)計(jì) 報(bào)表生成 等
8. 探針 范圍 選購 ：
探針壓力為 100-550g；依據(jù)樣品接觸需要手動(dòng)調(diào)節(jié)
9.探 針
針間絕緣電阻： ≥1000MΩ；機(jī)械游移率：≤0.3%
圓頭 銅 鍍金 材質(zhì)， 探針間距 1mm；2mm；3mm選配， 其他規(guī)格可定制
10. 可測晶片
尺寸 選購
晶圓尺寸： 2-12寸 （ 6寸 150mm， 12寸 300mm ）；
方形片：大至 156mm X 156mm 或125mm X 125mm
11.分析模式
自動(dòng)或手動(dòng) 單點(diǎn) 模式
1 2 .加壓方式
測量重復(fù)性：重復(fù)性 ≤ 3 %
1 3 .防護(hù) 功能
具有限位量程和壓力保護(hù) ;誤操作和急停防護(hù);異常警報(bào)
1 4 . 測試環(huán)境
實(shí)驗(yàn)室環(huán)境
1 5 .電源
輸入 : AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<100W
1 6 .選購項(xiàng)目
電腦和打印機(jī)
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