FISCHERSCOPE HM2000納米壓痕測(cè)量?jī)x 返回列表頁(yè)

FISCHERSCOPE HM2000納米壓痕測(cè)量?jī)x特性：

• 眾多塑性與彈性特性的測(cè)定，例如壓痕硬度（可轉(zhuǎn)換為維氏硬度）、壓痕模量以及蠕變
• 符合 DIN EN ISO 14577-1 與 ASTM E 2546 標(biāo)準(zhǔn)的材料參數(shù)測(cè)量與計(jì)算
• 模塊化構(gòu)造使其能夠靈活適應(yīng)客戶(hù)特定要求，可追溯性更強(qiáng)
• 壓頭：維氏、柏氏或硬質(zhì)合金球
• 測(cè)量頭，適用于在恒定溫度下進(jìn)行的長(zhǎng)達(dá)數(shù)小時(shí)的蠕變測(cè)量
• 具有三種倍率的顯微鏡，適用于測(cè)量點(diǎn)的準(zhǔn)確定位
• 通過(guò)快速行進(jìn)實(shí)現(xiàn)自主、高度準(zhǔn)確的零位測(cè)定
• 適用于多測(cè)量點(diǎn)自動(dòng)化測(cè)試的可編程 XY 工作臺(tái)
• 通過(guò)高性能 WIN-HCU 軟件快速評(píng)估并清晰地呈現(xiàn)測(cè)量結(jié)果

FISCHERSCOPE HM2000納米壓痕測(cè)量?jī)x應(yīng)用：

• 研發(fā)中的表面表征，例如醫(yī)用植入物的硬鉻或陶瓷涂層
• 復(fù)雜幾何形狀（如套管）上的硬度測(cè)試
• 電鍍行業(yè)中部件批量生產(chǎn)的連續(xù)測(cè)試
• 電路板的質(zhì)量保證，例如薄金鍍層的電阻測(cè)試或絕緣層控制
• 測(cè)試金屬箔的韌性與強(qiáng)度
• 針對(duì)決定磨損的性能測(cè)量，例如 PVD 或 CVD 涂層以及硬質(zhì)材料（如氮化鈦、氮化鉻以及氮化鋁鈦涂層）的硬度與強(qiáng)度
• 薄 DLC 涂層的機(jī)械性能、彈性以及塑性特性
• 油漆涂層的硬度與彈性測(cè)量，例如汽車(chē)車(chē)漆
• 測(cè)試陽(yáng)極氧化層的機(jī)械性能（硬質(zhì)陽(yáng)極氧化層）
• 驗(yàn)證涂層的耐刮擦性與耐磨性
• 針對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)量

附件（可選）：

• 封閉的測(cè)量艙以避免外界干擾，如來(lái)自空調(diào)機(jī)組的氣流
• 主動(dòng)阻尼工作臺(tái)，以減少振動(dòng)影響
• 可加熱的樣品覆蓋層，用于在溫度不斷升高的情況下進(jìn)行材料測(cè)試
• 原子力顯微鏡 (AFM)：記錄樣品的三維表面并測(cè)量其他材料參數(shù)，如摩擦特性
• 高精度定位臺(tái)，可實(shí)現(xiàn) < 500 nm 的定位精度
• 更強(qiáng)大的顯微鏡，具有自動(dòng)對(duì)焦與自動(dòng)對(duì)象識(shí)別功能
• 適用于不同樣品的樣品夾具