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美國合金無損X-200分析儀返回列表頁

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更新時間：2023-10-06 12:02:01瀏覽次數(shù)：736次

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應(yīng)用領(lǐng)域	地礦,冶金

美國合金無損X-200分析儀是SciAps諸多型號中性能與價格好的一款產(chǎn)品。它使用了性能的SDD 探測器，高度優(yōu)化的X射線管和探測器之間的幾何結(jié)構(gòu)，同時改進了散熱性、減輕了重量，提高耐用性。在Android操作系統(tǒng)上運行WIFi和軟件，輕松實現(xiàn)智能手機的高速度、連接性和數(shù)據(jù)管理。

●重量輕，僅1.4Kg(含電池)；

●全新散熱設(shè)計，可在高達43℃以上環(huán)境溫度連續(xù)工作；

●改進的內(nèi)部電路設(shè)計；

●全新外殼設(shè)計和金屬部件升級最新的軟件界面和校準。

美國合金無損X-200分析儀技術(shù)參數(shù)：

重量	1.40kg(含電池)
外形尺寸	238mmx283mmx84mm
	插拔式可充電鋰電池，可在設(shè)備內(nèi)部充電或使用外部充電器充電，交流電源
顯示屏	5英寸彩色觸摸屏，智能手機式顯示屏-PowerVR SGX5403D圖形
樣品監(jiān)測	內(nèi)部攝像頭，用于在分析前和分析期間查看樣品，以便正確對準樣品。微距相機，用于掃描二維碼或條形碼以及照片文檔和報告生成。
通訊/數(shù)據(jù)傳輸	Wi-Fi、藍牙、USB可連接到大多數(shù)設(shè)備，包括SciAps Profile Builder PC軟件。提供SciAps云數(shù)據(jù)管理選項
激發(fā)源	6-40KV,200uA銠靶用于合金分析，6-50kV,200金靶用于其他大多數(shù)應(yīng)用
探測器	20mm2硅漂移探測器(有源區(qū)),135eV分辨率FWHM,5 . 95Mn K- a線。
X射線濾光片	用于光束優(yōu)化的x6濾光片濾光輪
處理器	ARM Cortex-A9雙核/1.2GHz內(nèi)存：1GB DDR2 RAM,1GB NAND
脈沖處理器	14位數(shù)模轉(zhuǎn)換，80MSPS采樣率，8K通道MCA,USB2.0高速數(shù)據(jù)傳輸至主處理器； FPGA應(yīng)用數(shù)字濾波用于高吞吐量脈沖處理(50 nS-24 uS峰值時間)
校準方法	基本參數(shù)、康普頓歸一化和/或康普頓歸一化用于合金分析。地球化學、環(huán)境和土壤校準
校準檢查	內(nèi)部316不銹鋼標準樣品，用于校準驗證和能量標度驗證
使用環(huán)境溫度范圍	-12℃-55℃
安全性	密碼保護使用(用戶級別)和內(nèi)部設(shè)置(管理員)
規(guī)范	CE,RoHS,USFDA認證，符合加拿大RED Act法規(guī)。