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超聲波檢測焊縫時如何選擇斜探頭

閱讀:2143        發(fā)布時間:2020-12-2

在焊接件超聲波檢測工作中,選擇合適的探頭是發(fā)現(xiàn)缺陷、并對缺陷定位和定量的關(guān)鍵。因此在進行超聲波檢驗之前,一定要對檢驗對像有一個充分的了解,對可能產(chǎn)生的缺陷有一定的認識從而根據(jù)這些情況來選擇探頭。

一、頻率的選擇

頻率的大小主要影響探頭近場區(qū)的長度和半擴散角的大小頻率高,波長短,聲束窄擴散角小,能量集中,聲束指向性好因為波長短,對發(fā)現(xiàn)細小缺陷的能力強,分辨力高缺陷定位準確。但是頻率高,聲波在材料中的衰減大穿透能力差,頻率高,近場區(qū)較大對薄板工件發(fā)現(xiàn)近表面缺陷能力減弱,在選擇探頭頻率時要綜合考慮。對厚板對接焊縫應(yīng)盡量選擇頻率小一些一般取2MHz左右;特別是鑄件和奧氏體不銹鋼件,衰減大,頻率一般選0.51MH,對中等厚度板對接焊縫可選擇頻率較大一些的探頭一般選擇2.5MHz的探頭,薄板大頻率可選擇5MHz。

、晶片尺寸的選擇

晶片尺寸的大小決定了超聲波的發(fā)射功率,晶片尺寸越大發(fā)射功率越大,晶片尺寸大,半擴散角小聲束指向性好信噪比優(yōu)于小晶片探頭,未擴散區(qū)增大相對掃查的厚度范圍較大,對厚板應(yīng)盡量選擇晶片尺寸大一些的探頭,晶片尺寸大相對掃查寬度大,能夠提高工作效率。晶片尺寸大近場較大,對于容器筒體或接管表面為曲面時為保證耦合,探頭晶片不宜過大。對于奧氏體不銹鋼焊縫,為了減少晶粒散射的面積,應(yīng)當(dāng)選用大晶片探頭。晶片尺寸大對于薄板材料來說近場大對探傷不利,在保證強度足夠的前提下盡量選擇晶片尺寸小一些的探頭。方形晶片相對長方形晶片發(fā)射能量集中在選擇晶片時,應(yīng)優(yōu)先選擇方形晶片。

K值的選擇

K值對探傷靈敏度、聲束軸線的方向,一次波的聲程有較大的影響對于有機玻璃制成的斜楔,在K=0.84時,聲壓往復(fù)透射率高,K值越大折射角大,一次波的聲程大當(dāng)檢測厚壁工件時,應(yīng)選用較小的K值,薄壁工件時應(yīng)選擇較大K值,焊縫檢測過程中應(yīng)保證主聲束能夠掃查整個焊縫截面。應(yīng)盡量使聲束垂直于可能產(chǎn)生的主要缺陷對于焊縫根部的未焊透缺陷,要考慮端角反射問題,使用K=0.71.5左右的探頭超過這個范圍的K值端角反射率低。在選擇K值的過程中要根據(jù)檢測質(zhì)量的要求、板材厚度,檢查的主要缺陷等情況綜合考慮合理選擇如一種K值的探頭不能夠滿足檢測要求,要同時選擇不同K值的探頭來滿足質(zhì)量要求。

探頭前沿的選擇

橫波斜探頭一般由壓電晶片,吸聲材料,斜楔阻尼塊,電纜線和外殼基本組成。壓電晶片的振動包括厚度方向的振動和徑向振動其中厚度方向的振動是對我們有利的,而徑向振動是我們要消除的。一般通過斜楔前端做成牛角形外加吸聲材料來消除,這些也只能減少徑向振動不能夠*的消除,仍有部分徑向波會傳導(dǎo)到工件上,對主聲束的傳播產(chǎn)生一定的干涉。因此,在選擇探頭的過程中在滿足一次波和二次波能夠掃查焊縫整個區(qū)域的前提下,前沿可以選擇大一點,對于薄板為了保證聲束能夠掃查整個焊縫載面,應(yīng)選擇前沿相對較小一些,特別是對于薄壁管道的檢測,要求盡量前沿短一些。

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