產品分類品牌分類
-
紫外線燈75 不銹鋼鍍鉻條紋試塊 新美達清洗劑 紅色磁粉油磁懸液 顯像劑滲透劑清洗劑 反差增強抄數掃描劑 宏達牌反差增強劑 增強顯示劑磁粉探傷 新美達MT-BW黑水磁懸液 宏達牌干法黑磁粉、干法紅磁粉 熒光探傷磁粉磁懸 水基紅色磁懸液 宏達牌熒光磁粉(紅磁粉/黑磁粉) 新美達MT-BO黑油磁懸液 上海新美達/誠友集團反差增強劑 磁粉探傷用消泡劑 無錫捷成 磁場強度計 北京師范大學 屏幕亮度計 北師大紫外輻照計 宏達干法黑磁粉 宏達牌 熒光磁懸液 宏達牌反差增強劑 宏達牌濕法探傷磁粉膏 宏達牌著色滲透探傷劑 新美達 DPT-5 著色滲透探傷劑 RJUV-90紫外線探傷燈 RJUV-40紫外線探傷燈 熒光磁粉探傷 顯影粉定影粉 DPT-5著色探傷機滲透探傷劑顯像劑 著色滲透探傷劑 A型靈敏度試片 FC-5反差增強劑 宏達黑油磁懸液 磁場指示器八角試塊 儒佳 RJ-LED86觀片燈與黑白密度計一體 儒佳RJH-130高精密超聲波測厚儀 磁粉探傷|干磁粉噴散器
-
標定尺 警戒帶警示牌 現場警示燈 膠片洗片機 透射式黑白密度計 工業(yè)底片黑白密度計 工業(yè)LED觀片燈 冷光源便攜式觀片燈 冷光源底片燈 工業(yè) 鉛箔增感屏 顯定影液套藥加熱棒 工業(yè)膠片透射式黑白密度計含校準密度片 核輻射劑量片熱釋光片 冷光源工業(yè)觀片燈黑度5.0D 雙絲像質計DR成像系統(tǒng)用雙線型IQI定制選擇 環(huán)境輻射檢測儀核輻射檢測手持式醫(yī)院工業(yè)射線巡檢儀 底片評片燈x光射線探傷 工業(yè)觀片燈/射線探傷評片/小巧臺式便攜/高亮度冷光源LED黑度5.0D 暗室紅燈定時器 射線探傷專用鉛字盒 愛克發(fā)AGFA G335定影液 沖洗套藥 手洗套藥 愛克發(fā)顯影液 定影液 沖洗套藥 手洗套藥 機洗套藥AGFA 管道射線探傷專用尺 定位尺 磁性貼邊框 數字定時器暗室紅燈定時器 不銹鋼洗片桶 射線評片尺 拉環(huán)磁鋼 膠片底片袋 可加工定制 暗室LED燈 (手持式)個人劑量報警儀 筆式輻射報警儀 環(huán)境輻射檢測儀 工業(yè)X射線照相底片袋 探傷膠片袋 定制定做 工業(yè)底片烘干箱 便攜工業(yè)底片烘干箱 325000Lux工業(yè)底片觀片燈 435000Lux工業(yè)底片觀片燈 高亮度工業(yè)觀片燈 腕式個人劑量計 黑白密度計定制生產 廠家直銷 個人輻射劑量報警儀價格 筆式輻射劑量報警儀 非磁性暗袋 射線探傷暗袋非磁人革暗袋 觀片燈 射線觀片燈 醫(yī)用輻射劑量報警儀 暗室紅燈計時器 一體式密度計觀片燈 高亮度射線底片觀片燈 暗室紅燈 手持式輻射報警儀 個人劑量報警儀 工業(yè)觀片燈 膠片燈 便攜式工業(yè)冷光源觀片燈 底片評片燈
超聲波檢測中缺陷如何來定性
超聲波檢驗與其他四種檢驗方法主要的區(qū)別在于對缺陷的定性,對于超聲檢驗人員來說不是一件簡單事情,即使已取得超聲二級的人員來說同樣是一件困難的事,僅僅想通過目前的“速成培訓班”就能掌握該項技能是不可能完成的一項任務。因此作為超聲檢驗人員來說就必須通過在工作的學習與積累,結合工件的加工工藝、缺陷特征、缺陷波形和底波情況來分析估計缺陷的性質。拋開技術層面來說,其實對于超聲檢驗方法本身來說定性也沒有那么必要的,因為標準后評定結果其實也不是根據缺陷性質來決定判廢與否,而是通過計算缺陷的當量和測量缺陷長度來度量和驗收的。作為無損檢測專業(yè)技術人員,必須具備一定的專業(yè)素養(yǎng),能夠通過掌握一些典型缺陷的特征,當然這種經驗的積累同樣也是無數個探傷前輩們總結出來的,小編收集并整理出來分享的無損檢測人員學習探討,如有不對之處還請諒解,接下來將對不同種類的缺陷分別舉例進行說明。
一、根據加工工藝分析缺陷性質
金屬材料的性能包括了使用性能和工藝性能,為了使材料能夠達到其工藝性能要求,就要通過各種冷、熱加工的方法來實現,然后這個過程中就會在工件內形成的各種缺陷。例如焊接過程中可能產生氣孔、夾渣、未熔合、未焊透和裂紋等缺陷。鑄造過程中可能產生氣孔、縮孔、疏松和裂紋等缺陷。鍛造過程中可能產生夾層、折疊、白點和裂紋等缺陷。對于這類缺陷我們應該如何去分析定性缺陷的性質呢?
首先我們在探傷前應該了解相關工件的圖紙和資料,了解工件的材料、結構特點、幾何尺寸和加工工藝,然后根據工藝特點及波形圖來大致確定其性質。
例如:在屏幕中顯示出一個尖銳回波,當探頭前后,左右掃查時,其波幅高度突然上升到大值,然后又迅速的下降到零。如下圖所示:
二、根據缺陷特征分析缺陷性質
根據缺陷特征可以分為平面缺陷、點狀缺陷和密集形缺陷。這三類缺陷我們如何來區(qū)分呢?通過變化探頭的角度或方向的方式來進行區(qū)別,對于平面形缺陷,變換探頭不同方向進行檢驗,其缺陷回波高度顯著不同。在垂直于缺陷方向探測,缺陷回波高;在平行于缺陷方向探測,缺陷回波低,甚至無缺陷回波。如:裂紋、夾層、折疊等缺陷就屬于平面形缺陷;對于點狀缺陷,變換探頭不同方向進行檢驗,缺陷回波無明顯變化。如:氣孔、小夾渣等屬于點狀缺陷;對于密集形缺陷,缺陷波密集相互彼連,變換探頭不同方向進行檢驗,缺陷回波情況類似。如:白點、疏松、群孔、群渣等屬于密集形缺陷。
例如:探頭在各個不同的位置檢測缺陷時,屏幕上顯示一群密集信號,探頭移動時,信號時起時伏。如下圖所示:
三、根據缺陷波形分析缺陷性質
依據缺陷的波形分析缺陷性質,主要是因為缺陷內的物質聲阻抗對缺陷回波高度有較大的影響。如白點、氣孔等內含物氣體,聲阻抗很小,反射回波高。非金屬或金屬夾渣聲阻抗較大,反射回波低。另外,不同類型缺陷反射波的形狀也有一定差異。例如氣孔與夾渣、氣孔表面較平滑,界面反射率高,波形陡直尖銳。夾渣表面粗糙,界面反射率低,同時還有部分聲波透入夾渣層,形成多次反射,波形寬度大并帶鋸齒。單個缺陷與密集缺陷的區(qū)分比較容易。一般單個缺陷回波是獨立出現的,而密集缺陷則是雜亂出現,且互相彼連。以上說的都是靜態(tài)波形。超聲波入射到不同性質的缺陷上,其動態(tài)波形也是不同的。不同性質的密集缺陷的動態(tài)波形對探頭移動的敏感程度不同。白點對探頭移動很敏感,只要探頭稍一移動,缺陷波立刻此起彼伏,十分活躍。但夾渣對探頭移動不太敏感,探頭移動時,缺陷波變化遲緩。
四、根據底波分析缺陷的性質
根據底波來分析缺陷性質,是因為當工件內部存在缺陷時,超聲波被缺陷反射使射達底面的聲能減少,底波高度降低,甚至消失。不同性質的缺陷,反射面不同,底波高度也不一樣,因此在某些情況下可以利用底波情況來分析估計缺陷的性質。當缺陷波很強,底波消失時,可認為是大面積缺陷,如夾層、裂紋等;當缺陷波與底波共存時,可認為是點狀缺陷(如氣孔、夾渣)或面積較小的其它缺陷;當缺陷波為互相彼連高低不同的缺陷波,底波明顯下降時,可認為是密集缺陷,如白點、疏松、密集氣孔和夾渣等;當缺陷波和底波都很低,或者兩者都消失時,可認為是大而傾斜的缺陷或是疏松。若出現“林狀回波”,可認為是內部組織粗大。