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CSK-IB試塊

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  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 濟寧市
在線詢價 收藏產(chǎn)品

更新時間:2023-05-22 17:57:27瀏覽次數(shù):871

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應(yīng)用領(lǐng)域 化工,石油,航天,電氣,綜合
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進而來的

詳細(xì)介紹

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分 辨力。

 

 CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分 辨力。

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