產(chǎn)地類別 |
國(guó)產(chǎn) |
價(jià)格區(qū)間 |
5萬(wàn)-10萬(wàn) |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
建材,電子,汽車,電氣,綜合 |
可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試材料瞬間高溫至低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)
可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途:
高低溫沖擊試驗(yàn)箱用于測(cè)試材料瞬間高溫至低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的物理變化。適用于金屬、塑料、橡膠、電子機(jī)電產(chǎn)品、航空航天、能源材料、醫(yī)療化工等材料行業(yè)模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)
可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn):
1、采用氣動(dòng)控制,提籃在高低溫室內(nèi)切換轉(zhuǎn)移,
2、轉(zhuǎn)換時(shí)間短,溫度恢復(fù)時(shí)間短,溫變速度快,
3、采用兩箱法,新一代外觀設(shè)計(jì),整體結(jié)構(gòu)緊湊,體積小,提高了工作室的溫度均勻性。
4、既可作冷熱沖擊試驗(yàn),也可以做單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。
5、備有高檔萬(wàn)向滾輪,方便在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)移動(dòng)。
6、真空雙層加熱觀察窗,自帶照明。
7、多數(shù)據(jù)接口,SD卡儲(chǔ)存,USB輸出,電腦APP遠(yuǎn)程操作。
技術(shù)參數(shù)
1、提籃有效容積 27L
2、規(guī)格尺寸:外寬深高:750×2100×1900mm,內(nèi)520×600×600mm
3、提籃尺寸:300×300×300mm
4、高溫預(yù)溫度范圍:60℃~+180℃
5、低溫預(yù)溫度范圍:-10℃~-60℃
6、溫度沖擊范圍:-40℃~+120℃
7、提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤10S
8、溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5min
9、溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
10、溫度均勻度:≤2℃
11、溫度偏差:≤±2℃
12、高溫預(yù)熱時(shí)間:20℃~180℃≈30min、
13、低溫預(yù)冷時(shí)間:20℃~-60℃≈75min
14、總功率:≈12kw
15、運(yùn)行功率:≈8KW
16使用電壓:AC220 50Hz
規(guī)格 | 提籃尺寸 | 外形尺寸 |
27L | 300×300×300 | 750×2100×1900 |
80L | 400×400×500 | 1200×2500×1800 |
150L | 500×500×600 | 1500×2600×1850 |
210L | 600×500×700 | 1700×2650×1900 |
510L | 800×800×800 | 2500×3200×2100 |
1000L | 1000×1000×1000 | 3000×3500×2100 |
溫度參數(shù) | 高溫預(yù)溫度范圍 | 60℃~+200℃ |
低溫預(yù)溫度范圍 | -10℃~-80℃ |
沖擊范圍 | -40、-50、-65℃~120、150℃ 按要求選定 |
溫度恢復(fù)時(shí)間 | ≤5min |
溫度波動(dòng)度 | ≤±0.5℃ |
溫度均勻度 | ≤2℃ |
溫度偏差: | ≤±2℃ |
提籃運(yùn)行 | 運(yùn)動(dòng)方式 | 氣動(dòng) |
提籃轉(zhuǎn)換時(shí)間 | ≤10S |
安全保護(hù) | 漏電、短路、超溫、電機(jī)過(guò)熱、壓縮機(jī)超壓、過(guò)載、過(guò)電流保護(hù)/控制器停電記憶 |
滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
GB11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)
GJB150.5-1986溫度沖擊試驗(yàn)