致茂電感測試包裝機MODEL 1870D 返回列表頁

致茂電感測試包裝機MODEL 1870D 系列產(chǎn)品簡介

Chroma 1870D系列(1870D/1870D-12)是一款為芯片型電感所設計的自動化測試生產(chǎn)設備，包含芯片電感所需的各項測試功能，并具備制程終端的卷帶包裝自動化機械，達到生產(chǎn)線的制造自動化。

Chroma 1870D/1870D-12的標準測試功能包含電感值(Ls)/質(zhì)量因素(Q)量測、繞線電阻(RDC)量測、極性(Polarity)測試，并可選配層間短路測試(IWT)、絕緣電阻(IR)測試及重迭電流(BIASCurrent)測試，包含芯片電感的標準規(guī)格及質(zhì)量相關(guān)的測試項目。

為因應現(xiàn)今電子產(chǎn)品， 微型電感被大量使用， 相對的電感需大量生產(chǎn)，C h roma

1870D/1870D-12最大生產(chǎn)效率為每分鐘1,200個， 可滿足龐大的需求數(shù)量。除測試外，1870D/1870D-12也具備自動包裝機械，可將產(chǎn)品自動封裝于包裝卷帶，以符合SMD生產(chǎn)所需樣式。

Chroma 1870D/1870D-12的供料模塊采用圓盤振動送料，圓盤振動送料可高速運送薄型化產(chǎn)品。圓盤振動送料透過軌道設計、光纖偵測及氣孔吹氣決定入料方向，相較于以往的直線往復式的機械送料，較快速也省空間。

傳統(tǒng)往復式機械或炮塔式機械架構(gòu)在測試移載時，是以吸嘴設計吸附產(chǎn)品進行移載，往往在移載時受移動慣性影響發(fā)生產(chǎn)品掉落，或因定位不準確而無法測試。Chroma 1870D/1870D-12的測試區(qū)以導引盤架構(gòu)設計，整體為封閉式的架構(gòu)，在進行高速移載時不會有產(chǎn)品遺漏的疑慮，相較于傳統(tǒng)機械架構(gòu)更快速及穩(wěn)定。

致茂電子專精于電子測試技術(shù)，對于自動測試設備的測試治具也有專門的設計。Chroma 1870D/1870D-12測試站所使用的測試座為四線式量測設計，比一般自動測試設備更精準穩(wěn)定。測試座與產(chǎn)品的連接端采片式設計，相較于探針于使用上容易接觸且壽命長，于量測上片式設計也較探針穩(wěn)定且容易維護。

Chroma 1870D/1870D-12具備專用軟件，可于生產(chǎn)過程中實時監(jiān)控測試狀態(tài)，將每一個產(chǎn)品的測試數(shù)據(jù)搜集儲存。實時監(jiān)控功能利于生產(chǎn)單位于生產(chǎn)時降低生產(chǎn)風險，減少不必要的生產(chǎn)工時。數(shù)據(jù)搜集功能有利于研發(fā)及品保單位做產(chǎn)品分析或質(zhì)量控管，透過軟件協(xié)助提升生產(chǎn)質(zhì)量。

特點

■ 測試包裝速度

- 600ppm~1,200ppm (1870D)

- 80ppm~250ppm (1870D-12)

■ 標準功能：

- 電感/質(zhì)量因素測試

- 繞線電阻測試

- 極性測試

■ 選配功能：

- 層間短路測試

- 絕緣電阻測試

- 重迭電流測試

■ 圓振盤入料設計，穩(wěn)定快速供料

■ 導引盤設計，無掉料疑慮

■ 四線式量測設計的測試座

■ 穩(wěn)定高壽命專用測試片

■ 熱封模塊

■ 入料異常自動排料機構(gòu)

■ 各測試站皆有獨立的不良品收集盒

■ 另提供測試不包裝功能，良品只被收集在散裝收集盒內(nèi)

■ 專用數(shù)據(jù)搜集軟件，可實時監(jiān)控生產(chǎn)質(zhì)量

■ 預留噴碼及光學檢測機構(gòu)位置