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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
磁粉參考試塊（I型磁粉試塊）
本品為我司開(kāi)發(fā)的磁粉探傷使用參考試塊,按GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2002標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行加工生產(chǎn)而成。本試塊是用于確認(rèn)磁化方向和磁化強(qiáng)度的磁粉參考試塊?？蓮V泛應(yīng)用于磁粉探傷時(shí),對(duì)磁粉或磁懸液的性能及靈敏度檢驗(yàn)。
使用時(shí)無(wú)需進(jìn)行磁化,只要將熒光磁粉或熒光磁懸液直接噴灑在MT-I型試塊上,在紫外線燈的照射下即可得到清晰地顯示。如果用于檢驗(yàn)非熒光磁粉和非熒光磁懸液時(shí),在試塊上噴灑薄薄一層的FA-5型反差增強(qiáng)劑,這樣顯示的痕跡非常清晰。
本試塊表面的缺陷分為兩種：猝火裂紋和磨消裂紋。本試塊的材料：90MnCrV8，表面硬度：63HRC~70HRC。磁化方式1000A直流電中心導(dǎo)體充磁。符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2
使用方法：
1、本試塊裝入鋁合金盒中,請(qǐng)不要敲擊和跌落,以免影響缺陷的顯示痕跡。
2、使用熒光磁粉探傷時(shí),只要將熒光磁粉或熒光磁懸液直接噴灑在試塊的任何一面均可。在紫外線燈的照射下觀察痕跡顯示。
3、使用費(fèi)熒光磁粉探傷時(shí),在MT-I型試塊上噴涂反差增強(qiáng)劑,然后將非熒光磁粉或熒光磁懸液直接噴灑在試塊上。可直接在白光照射下觀察痕跡顯示。
4、使用完畢后,務(wù)必將試塊用水或溶液清洗干凈并干燥。
放置時(shí)請(qǐng)遠(yuǎn)離磁場(chǎng)或?qū)Т挪牧?以免影響試塊的靈敏度。
該參考試塊是表面帶有自然裂紋的圓塊，它包含由磨削和應(yīng)力腐蝕所產(chǎn)生的粗線條裂紋和細(xì)線條裂紋。試塊采用穿孔中心導(dǎo)體*磁化。用目視或其他方法來(lái)評(píng)定檢測(cè)介質(zhì)。
技術(shù)參數(shù)：
試塊材料：90MnCrV8
表面硬度：63HRC~70HRC
磁化方式：1000A直流電中心導(dǎo)體充磁
符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T15822.2-2005及ISO9934-2:2002
產(chǎn)品關(guān)鍵字：MTU-3磁粉檢測(cè)試塊 I型磁粉參考試塊