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高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱Pressure Cook Test

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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 ZK-PCT-35L
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 東莞市
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更新時(shí)間:2020-07-18 16:47:24瀏覽次數(shù):778

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,電氣,綜合
東莞中科測試設(shè)備是高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱Pressure Cook Test專業(yè)制造商與供應(yīng)商。PCT所激發(fā)對IC芯片封裝、半導(dǎo)體元器件、集成電路、PCB板等故障模態(tài)與HAST類似。二者提供的AF相差無幾,一般應(yīng)用 130℃,100%RH, Static bias,15PSIG(2 atm),168hou或96hous的試驗(yàn)條件引起封裝焊線拉起、芯片基座粘附性差、界面剝離、焊接基座的腐蝕等失效機(jī)制。

詳細(xì)介紹

高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱Pressure Cook Test概述

Pressure Cook Test專業(yè)制造商與供應(yīng)商。PCT所激發(fā)對IC芯片封裝、半導(dǎo)體元器件、集成電路、PCB板等故障模態(tài)與HAST類似。二者提供的AF相差無幾,一般應(yīng)用130℃,100%RH,Static bias,15PSIG(2 atm),168hou或96hous的試驗(yàn)條件引起封裝焊線拉起、芯片基座粘附性差、界面剝離、焊接基座的腐蝕、金屬化合或是引線開路等。是評估IC產(chǎn)品在高溫,高濕,高氣壓條件下對濕度的抵抗能力,加速其失效過程的可靠性測試設(shè)備。

 

高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱Pressure Cook Test技術(shù)參數(shù)

型 號:

ZK-PCT-25L

ZK-PCT-35L

ZK-PCT-45L

ZK-PCT-65L

內(nèi)部尺寸(W×H×D)mm:

Φ250×300

Φ300×450

Φ450×500

Φ600×650

外箱尺寸(W×H×D)mm:

500×500×700

580×850×650

800×750×900

950×900×1100

使用溫度:

121℃;132℃;(143℃特殊選用)

使用濕度:

100%RH飽和蒸氣濕度

使用蒸氣壓力(壓力):

1個(gè)環(huán)境大氣壓 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2屬于特殊規(guī)格)

循環(huán)方式:

水蒸氣自然對流循環(huán)

安全保護(hù)裝置:

缺水保護(hù),超壓保護(hù)、 (具有自動(dòng)/手動(dòng)補(bǔ)水功能,自動(dòng)瀉壓功能)

配 件:

不銹鋼隔板兩層

電 源:

AC220V,50/60Hz/AC380V , 50/60Hz

 

高壓蒸煮試驗(yàn)測試箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.IEC60068-2-66。

2.JESD22-A102-B。

3.EIAJED4701。

4.EIA/JESD22。

5.JESD22-A102

6.EIAJED- 4701-B123

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