深圳市晧辰電子科技有限公司

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日置(Hioki) 容量測試儀

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號3504-40

品牌HIOKI/日本日置

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地深圳市

更新時(shí)間:2024-10-09 15:38:50瀏覽次數(shù):95次

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應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
日置(Hioki) 容量測試儀BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外)

日置(Hioki) 容量測試儀

產(chǎn)品簡介

封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級分類等,功能有BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外)

● 高速測量2ms

● 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測量值,進(jìn)行被測物合格與否的判斷

● 對應(yīng)測試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能

● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試

● 3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試

● 查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤,提高成品率

● 高速測量2ms 

● 能根據(jù)C 和D (損耗系數(shù)*2)的測量值,進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應(yīng)測試線,比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具,實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試
● 查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤,提高成品率

輸入用探頭/測試夾具,實(shí)體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件

2.日置(Hioki) 容量測試儀技術(shù)規(guī)格

測量參數(shù)

Cs,Cp(電容),D(損耗系數(shù)tanδ)

測量范圍

C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000

基本精度

(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E為各系數(shù)

測量頻率

120Hz, 1kHz

測量信號電平

恒壓模式: 100mV (僅限3504-60), 500 mV, 1 V
測量范圍:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)

輸出電阻

5Ω(CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時(shí))

顯示

發(fā)光二級管 (6位表示,滿量程計(jì)算器根據(jù)量程而定)

測量時(shí)間

典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※測量時(shí)間根據(jù)測量頻率、測量速度的不同而不同

功能

BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標(biāo)配), GP-IB接口(3504-40除外)

電源

AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 特大110VA

體積及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg


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