FMP40手持式涂層測(cè)厚儀
【簡單介紹】
品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
【詳細(xì)說明】
DUALSCOPE® FMP40高精度手持式涂層測(cè)厚儀
自動(dòng)識(shí)別基材,將兩種測(cè)量法相結(jié)合(磁感應(yīng)/電渦流,符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標(biāo)準(zhǔn)),此通用型設(shè)備不僅可以對(duì)鋼鐵上的多種涂層進(jìn)行測(cè)量還可以對(duì)非鐵金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進(jìn)行測(cè)量。
特點(diǎn)
l 根據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對(duì)涂層進(jìn)行非破壞性測(cè)量LI>
l 自動(dòng)識(shí)別基材(FMP40)
l 可存儲(chǔ)高達(dá)20,000個(gè)數(shù)據(jù)
l 可建立多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式
l 數(shù)據(jù)多可分為 4000個(gè)數(shù)據(jù)組
l 以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地表現(xiàn)測(cè)量結(jié)果
l 可以輸入過程公差極限并計(jì)算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk
l 當(dāng)超出公差極*,有聲音和視覺警告信號(hào)
l 提供的電腦軟件FISCHER DataCenter 具有以下功能:傳輸和保存測(cè)量值,全面的統(tǒng)計(jì)和圖形化評(píng)估,簡便生成并打印個(gè)人檢測(cè)報(bào)告
典型應(yīng)用領(lǐng)域
l 汽車工業(yè)
l 涂料制造與加工
l 實(shí)驗(yàn)室
l 檢測(cè)機(jī)構(gòu)
l 航空工業(yè)
技術(shù)參數(shù):
涂層測(cè)厚儀型號(hào) | DUALSCOPE FMP20 | DUALSCOPE FMP40 |
非鐵金屬上的油漆、陽極氧化層、瓷漆或塑料涂層 | 可以 | 可以 |
鋁上的陽極氧化層 | 可以 | 可以 |
鋼或鐵上的儀器、瓷漆或塑料涂層 | 可以 | 可以 |
鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層 | 可以 | 可以 |
數(shù)據(jù)儲(chǔ)存 | 可以 | 可以 |
統(tǒng)計(jì)計(jì)算 | 可以 | 可以 |
打印口/RS232 接口 | 可以 | 可以 |
無線傳輸 | 可以 | |
可更換插入式智慧型探頭 | 可以 | 可以 |
集成恒壓探頭 | ||
測(cè)量范圍(μm) [mils] | 取決于探頭 | 取決于探頭 |
電源 | 電池 | 交流電或電池 |
重量[g] | 230 | 230 |
規(guī)格 (高 x 寬 x 深 mm) [高 x 寬 x 深 ] | 160 x 80 x 30 | 160 x 80 x 30 |
手持式涂層測(cè)厚儀FMP40-可配探頭:
FD10:兩用探頭 磁感應(yīng)和渦流兩用
測(cè)量范圍:磁性:0-1300 μm,渦流,0-800 μm
FGA1.3:磁感應(yīng)探頭 常用于高精度、薄涂鍍層測(cè)量
測(cè)量范圍:0-1500μm
測(cè)量精度:0.25μm(0-50μm)
0.5%(50-1000μm)
<2.5%(1000-1500μm)
小可測(cè)直徑:ф2mm(誤差<10%);ф14mm以上即為測(cè)量精度
小可測(cè)面積:ф2mm(誤差<10%);ф8mm以上即為測(cè)量精度
薄可測(cè)基材:0.2mm(誤差<10%)
FGAB1.3:磁感應(yīng)探頭 常規(guī)測(cè)量、高精度、高讀數(shù)穩(wěn)定性
測(cè)量范圍:0-2000μm
測(cè)量精度:0.5μm(0-100μm)
0.5%(100-1000μm)
<3%(1000-2000μm)
小可測(cè)直徑:ф2mm(誤差<10%);ф18mm以上即為測(cè)量精度
小可測(cè)面積:ф2mm(誤差<10%);ф8mm以上即為測(cè)量精度
薄可測(cè)基材:0.2mm(誤差<10%)
FGABI 1.3-150 磁感應(yīng)探頭 長臂探頭,小測(cè)ф9mm孔壁涂鍍層
測(cè)量范圍:0-1000 μm
測(cè)量精度:0.5 μm(0-50 μm)
1%(50-1000μm)
小可測(cè)直徑:ф2mm(誤差<10%);ф16mm以上即為測(cè)量精度
小可測(cè)面積:ф2mm(誤差<10%);ф8mm以上即為測(cè)量精度
薄可測(cè)基材:0.2mm(誤差<10%)
FTA3.3H 渦流探頭
測(cè)量范圍:0-1200 μm
測(cè)量精度:0.25 μm(0-50 μm)
0.5%(50-800 μm)
<2%(800-1200 μm)
小可測(cè)直徑:ф2mm(誤差<10%);當(dāng)ф50mm以上即為測(cè)量精度
小可測(cè)面積:ф2mm(誤差<10%);當(dāng)ф4mm以上即為測(cè)量精度
薄可測(cè)基材:0.09mm(誤差<10%)
FTA3.3 渦流探頭
測(cè)量范圍:0-1200 μm
測(cè)量精度:0.5 μm(0-100 μm)
0.5%(100-800 μm)
<3%(800-1200 μm)
小可測(cè)直徑:ф2mm(誤差<10%);當(dāng)ф50mm以上即為測(cè)量精度
小可測(cè)面積:ф2mm(誤差<10%);當(dāng)ф4mm以上即為測(cè)量精度
薄可測(cè)基材:0.09mm(誤差<10%)
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