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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
高精度絕緣電阻測(cè)試儀是一款能快速測(cè)量電子元器件，介質(zhì)材料，設(shè)備和電線電纜等絕緣性能的智能化測(cè)量?jī)x器。采用大尺寸的液晶，人性化的菜單布局，使用戶可更方便的操作儀器。
詳細(xì)介紹
TH2684高精度絕緣電阻測(cè)試儀
性能特點(diǎn)
| 產(chǎn)品型號(hào)： | TH2684 | ||||||||||||||||||
| 絕緣電阻測(cè)試儀 | |||||||||||||||||||
| 量程方式 | 自動(dòng), 保持 | ||||||||||||||||||
| 分選 | 四檔：（三檔合格，一檔不合格） | ||||||||||||||||||
| 平均次數(shù) | 1-100 | ||||||||||||||||||
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| 存儲(chǔ)器 | 可保存20組儀器設(shè)定值 | ||||||||||||||||||
| 工作溫度、濕度 | 10℃ - 40℃，≤ 90% RH | ||||||||||||||||||
| 電源要求 | 90 – 130 V AC（60Hz） 或 198 -260V AC（50HZ） | ||||||||||||||||||
| 功耗 | 250W | ||||||||||||||||||
| 尺寸 | 43cm * 40cm * 13cm | ||||||||||||||||||
| 重量 | 14kg | ||||||||||||||||||
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| 接口 | GPIB, （選件） RS232C,SCPI命令編程支持 HANDLER接口輸出，, USBDEVICE（ USBTMC and USBCDC support）， USBHOST（FAT16 and FAT32 ）， 掃描接口 | ||||||||||||||||||
 320*240大屏幕的LCD顯示，讓... 高速測(cè)量： 100ms 針對(duì)容性器件的接觸檢查功能 超低漏電流測(cè)試：zui低到10pA,精度... 具有兩路電壓輸出功能，可設(shè)置預(yù)充電電... 在電流小于10nA時(shí)，可切換輸入內(nèi)阻... 7擋量程或自動(dòng)量程 可編程設(shè)置的順序測(cè)試模式 儀器參數(shù)自動(dòng)保存 通過(guò)U盤自動(dòng)升級(jí)系統(tǒng)固件 Handler接口用于可實(shí)現(xiàn)聯(lián)機(jī)操作... 支持掃描接口，為用戶的大批量測(cè)試提供... | 強(qiáng)勁的充電功能 高測(cè)量精度：±2%至1TΩ 測(cè)量范圍： 10kΩ - 50TΩ 測(cè)試電壓：10V – 500V， 雙... 第二組電源可設(shè)置跟隨*組電源，并可... 2 、 25 、 200mA三檔可選... 4個(gè)可編程限定的檔比較功能 配有電阻R – 時(shí)間T 或 電流I ... 屏幕信息快存于U盤 （COPY鍵） 中英文可選操作界面 RS232C、USB Device實(shí)... |
簡(jiǎn)要說(shuō)明
型高精度絕緣電阻測(cè)試儀是一款能快速測(cè)量電子元器件，介質(zhì)材料，設(shè)備和電線電纜等絕緣性能的智能化測(cè)量?jī)x器。采用大尺寸的液晶，人性化的菜單布局，使用戶可更方便的操作儀器。該款儀器特別適用于電容測(cè)試系統(tǒng)?？蓪?shí)現(xiàn)快速測(cè)試。為實(shí)現(xiàn)快速，采取了如下措施，可選的輸入內(nèi)阻：大于10nA固定使用10k低輸入阻抗，小于10nA可選用1M內(nèi)阻測(cè)試電流。 TH2684具有內(nèi)置的雙電源支持大電容的充電：TH2684具有雙路高壓電源供給，在預(yù)充電階段支持輸出高達(dá)500V,200mA的電壓.并內(nèi)部支持電壓跟隨模式，并可在跟隨的基礎(chǔ)上微調(diào)電壓。保證容性材料的*充電。另外，TH2684可由用戶自行編程測(cè)試步驟，zui多可達(dá)18步。例如可編程充電，等待，測(cè)試，放電等。每個(gè)步驟zui長(zhǎng)可持續(xù)100S。 TH2684 *的接觸檢查功能，對(duì)于電容和電纜等一樣的容性材料，接觸檢查功能能很好地判讀器件有沒(méi)接觸好，較少錯(cuò)誤測(cè)試的發(fā)生，另外接觸檢查不會(huì)增加任何測(cè)試時(shí)間。 TH2684標(biāo)配RS232,USBDEVICE,掃描口，Handler等接口。其中Handler接口為實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供了方便。掃描口，則為大量元器件的測(cè)試提供了方便，用戶可以配一臺(tái)掃描儀來(lái)加快元器件的測(cè)試。