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大面積 SEM 成像 參考價(jià):面議
大面積 SEM 成像通過 CAD 形狀提取在大面積和 3D 中拼接 3D SEM 圖像馬賽克聚焦離子束掃描電鏡系統(tǒng) 參考價(jià):面議
聚焦離子束掃描電鏡系統(tǒng)用于以 FIB 為中心的納米加工的 FIB-SEMVELION 是一種用于納米科學(xué)與工程的新型 FIB-SEM 儀器概念。FIB 納米加工...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)