蘇州長留凈化科技有限公司
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QIII-QIII表面微粒檢測(cè)儀
  • QIII-QIII表面微粒檢測(cè)儀
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貨物所在地:江蘇蘇州市

地: 江蘇蘇州

更新時(shí)間:2025-01-13 21:00:07

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表面微粒檢測(cè)儀(SPD)測(cè)量和控制表面微粒污染的---使得其變得更好。新一代的表面微粒檢測(cè)儀涵蓋了我們核心的表面測(cè)量技術(shù)能夠分辨0.1微米的微粒并且大大增加了當(dāng)今在潔凈室中的使用。

產(chǎn)品能力再定義:

表面微粒檢測(cè)儀(SPD)測(cè)量和控制表面微粒污染的---使得其變得更好。新一代的表面微粒檢測(cè)儀涵蓋了我們核心的表面測(cè)量技術(shù)能夠分辨0.1微米的微粒并且大大增加了當(dāng)今在潔凈室中的使用。

隨著高科技產(chǎn)業(yè)開始傾向于越來越小的幾何體,工作更快,分辨率更高,產(chǎn)品更加復(fù)合化,表面微粒等級(jí)控制在0.1微米范圍內(nèi),成為了產(chǎn)量和過程控制中的關(guān)鍵。

 

應(yīng)用范圍:

高標(biāo)準(zhǔn)醫(yī)療器械、高精度半導(dǎo)體、高精度光學(xué)器械、高清液晶顯示屏、精密電路板、精密電子器械等所需表面潔凈度檢測(cè)儀器設(shè)備。

 

優(yōu)點(diǎn):

可預(yù)見的,每次的儀器*恢復(fù)。

減少25-50%的恢復(fù)時(shí)間

減少50%+的顆粒數(shù)

減少干燥處理及晶圓測(cè)試

減少泵的清洗周期

提升MTBC至4X或者更多

提升10%+的工具可用性

減少PM周期時(shí)間

減少故障事件

符合ISO-14644-9表面粒子規(guī)范

 

新型QIII ULTAR SPD 包括:

HeNe激光光學(xué)0.1微米的分辨率

采用新型的靜態(tài)采樣模式提高測(cè)量精度

新型7寸高分辨率(WVGA)屏幕,顯示清晰的圖像和文字。

新式取樣頭插座設(shè)計(jì),取樣頭更換,更輕易,便利

雙電池插槽設(shè)計(jì),可熱抽換,新式智慧型鋰電池設(shè)計(jì)

收集的資料現(xiàn)在可以被很容易的通過USB下載

通過USB接口,軟件可直接被用戶升級(jí)

6個(gè)粒徑通道,增強(qiáng)粒子的區(qū)分的可視性

 

*時(shí)間PM自凈

如何測(cè)量過程室的潔凈度在PM期間?SPD可以大大減少PM自凈時(shí)間,green-to-green時(shí)間,并且提高了fab的吞吐量,通過使用QIII SPD,你能直接的測(cè)量物體表面精確的0.1微米的微粒。用QIII SPD開始清潔的結(jié)果是,*時(shí)間復(fù)原所有尺寸的粒子個(gè)數(shù),讓經(jīng)過處理過的工具有明顯的效果。

 

綠色-到-綠色 時(shí)間?(所有PM時(shí)間,包括了自凈時(shí)間)

降低了50%的自凈時(shí)間

保持低的green-to-green時(shí)間

QIII SPD 按PM實(shí)施

 

MTBC增長

通過結(jié)合QIII SPD在PM進(jìn)程中粒子控制,MTBC可以增長。

舉例1.1:300mm介質(zhì)工具

MTBC pre-QIII SPD: 174 rf hrs

MTBC post-QIII SPD: 300 rf hrs

ROI:3.6個(gè)月

 

舉例2.

舉例1.2:300mm金屬工具

MTBC pre-QIII SPD: 40 rf hrs

MTBC post-QIII SPD: 110 rf hrs

ROI:0.6個(gè)月

 

產(chǎn)品技術(shù)資料:

尺寸(DxH):14X23X9

重量:38 lbs

電源:100-240VAC,50/60HZ

電池:鋰電池,可選電池充電器

顯示屏:WVGA 7寸觸摸屏

GUI:Windows CE

傳感器:HeNe 敏感達(dá)到0.1微米

輸出:USB或者以太網(wǎng)

 

探頭的選擇:

標(biāo)準(zhǔn):1/2 直角,2 平角

查看探頭說明書里的選項(xiàng)

可根據(jù)要求定制、

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