真空金屬鍍鋁膜厚度測(cè)試儀DMT-S

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真空金屬鍍鋁膜厚度測(cè)試儀依據(jù)國(guó)家包裝產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心（濟(jì)南）起草的《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》于1996年頒布，詳細(xì)介紹了如何檢測(cè)絕緣軟基材表面的真空金屬鍍層厚度的測(cè)試方法。電阻法檢測(cè)鍍鋁層的厚度用表面電阻來表示，單位是Ω/□，數(shù)值越大說明鍍鋁層厚度越薄，一般真空鍍鋁薄膜的表面電阻值為1.0－2.5Ω/□。
可以測(cè)試鍍鋁層的均勻度，厚度及電阻值，并*具有溫度補(bǔ)償功能，大液晶屏顯示，自帶微型打印機(jī)，隨時(shí)打印測(cè)試數(shù)據(jù)。

主要參數(shù)
厚度測(cè)量范圍：厚度50-570?  
方塊電阻測(cè)量范圍：0.5-10Ω
方塊電阻測(cè)量誤差：±1%
樣品尺寸：100×100mm
夾樣誤差：±0.1mm
測(cè)溫范圍：0～50℃，精度±1℃
外形尺寸：370mm×330mm×450mm （長(zhǎng)寬高）
重量：19kg

檢測(cè)產(chǎn)品

環(huán)境要求
環(huán)境溫度:23±2℃
相對(duì)濕度:zui高60%，無凝露
工作電源:220V  50Hz
標(biāo)     準(zhǔn)
GB/T 15717