UM-5彩色超聲波測(cè)厚儀

UM-5 彩色超聲波測(cè)厚儀原理：
有時(shí)許多情況無(wú)法滿足上述要求，例如近表面高度腐蝕、粗晶材料（如鑄鐵）、鋁材料、小直徑管、超薄板、超厚板、表面粗糙、材料內(nèi)部的不均勻、內(nèi)含缺陷、疊片結(jié)構(gòu)等等，普通超聲波測(cè)厚儀將無(wú)能為力。
UM-5可輕松解決上述問題：
1.         可以通過調(diào)整增益和閘門高度，使*底面回波高于閘門。
2.         可以通過消隱功能使*底面回波前的其它雜波無(wú)效。

UM-5 彩色超聲波測(cè)厚儀特點(diǎn)：

實(shí)時(shí)彩色A-掃描（Live Color A-Scan）
用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號(hào)波型（或A掃描），這對(duì)于需要驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確的場(chǎng)合是關(guān)重要的。許多情況會(huì)引發(fā)錯(cuò)誤的厚度讀數(shù)甚無(wú)讀數(shù)，根據(jù)波形能輕松找到問題所在，然后根據(jù)波形僅需對(duì)增益（GAIN）、消隱（BLANKING）、閘門（GATE）這三個(gè)參數(shù)做適當(dāng)調(diào)整，就可得到正確的厚度讀數(shù)。
波形的用處：根據(jù)波形驗(yàn)證厚度讀數(shù)，根據(jù)波形找到問題所在，根據(jù)波形尋求解決之道，根據(jù)波形調(diào)整參數(shù)解決問題。
增益調(diào)整（GAIN）
調(diào)整儀器對(duì)回波信號(hào)的放大倍數(shù)，允許以ldB 為單位手動(dòng)增加或減少。這個(gè)功能對(duì)聲衰減材料（比如金屬鑄件）的測(cè)量是非常有效的。

消隱功能（BLANKING）
使紅色消隱條范圍內(nèi)的波形無(wú)效，可以略去影響測(cè)量的
有害雜波，比如因材料表面粗糙或內(nèi)部不均勻引起的噪聲。

閘門高度可調(diào)（GATE）                        
 只有回波高于閘門時(shí)，儀器才認(rèn)為接收到了回波，才會(huì)有測(cè)量值。可見閘門高度可調(diào)的重要性，尤其是在應(yīng)對(duì)低回波信號(hào)的應(yīng)用中更是如此（比如超薄板、超厚板的測(cè)量）。
紅色箭頭   
A-掃描模式有一個(gè)紅色箭頭指示測(cè)量點(diǎn)，厚度讀數(shù)就是該點(diǎn)的橫坐標(biāo)。它可幫助判斷厚度讀數(shù)是否正確，正確測(cè)量時(shí)，紅箭       
頭應(yīng)該指向*底面回波前沿。                           
范圍（RANGE）
調(diào)整顯示在屏幕上的波形范圍，視覺上波形被壓縮或展開。如果沒有正確的設(shè)置顯示范圍，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測(cè)量值。
平移（DELAY）
調(diào)整顯示在屏幕上的波形的起始位置，視覺上波形被水平移動(dòng)。如果沒有正確的設(shè)置平移，回波波形可能出了顯示區(qū)域而看不到，但仍能正確地顯示測(cè)量值。范圍和平移功能可將波形的任何一部分放大顯示在屏幕上。
整流方式
可選擇射頻、正半波、負(fù)半波、全波四種整流方式。
射頻：描繪了完整的回波波形；
正半波：指去掉回波的負(fù)半波只顯示正半波；
負(fù)半波：指去掉回波的正半波而將負(fù)半波翻轉(zhuǎn)顯示為正；             
全波： 指回波的正半波和翻轉(zhuǎn)為正的負(fù)半波均顯示。               

報(bào)警模式
可設(shè)置報(bào)警上限和報(bào)警下限。報(bào)警時(shí)波形和厚度值動(dòng)態(tài)改變顏色。

縮減率測(cè)量
儀器具有差值和縮減率模式。差值模式顯示實(shí)測(cè)厚度與預(yù)設(shè)厚        
度之間的差值變化?？s減率是計(jì)算并顯示材料變薄以后厚度縮
減的百分比。典型應(yīng)用是對(duì)因彎曲而變薄的金屬材料進(jìn)行測(cè)量。    
小/ 大值模式
該模式在屏幕上同時(shí)顯示當(dāng)前厚度值、 小厚度值和 大厚度值?？裳刂ぜ砻嫱蟿?dòng)探頭，儀器自動(dòng)找出 薄值和 厚值。

多種探頭可選
儀器內(nèi)置多種探頭的V聲程校正程序，分標(biāo)準(zhǔn)探頭、小徑管探頭、微型探頭、粗晶探頭、高溫探頭，頻率范圍從210MHz，晶片尺寸從412mm。一般來(lái)說(shuō)，探頭頻率越高而直徑越小，越適合對(duì)較薄或彎曲工件的測(cè)量。

UM-5 A掃描超聲波測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)：
測(cè)量范圍
0.5508毫米（0.0220英寸）
取決于所用探頭、材料、表面狀況和溫度

單位和顯示分辨率
毫米-0.01，0.1
英寸-0.001，0.01

顯示模式
? 厚度值模式
? A掃描或波形模式
?  小/ 大值捕獲模式
? 差值/減薄率模式

V路徑修正
自動(dòng)V聲程修正，補(bǔ)償雙晶探頭的非線性度

示值誤差
±0.05mm  （25mm以下）
±0.2% H  （100mm以下）
±0.5% H  （100mm以上）
注：H為被測(cè)物厚度

重復(fù)性:±0.05mm
顯示屏:320×240點(diǎn)陣，2.4寸真彩屏
測(cè)量速率:每秒4次測(cè)量
材料聲速范圍:500～9999m/s，0.0197～0.3937in/us
質(zhì)保期:2年
工作語(yǔ)言：中文
電源：兩節(jié)1.5V  AA電池
操作時(shí)間：兩節(jié)5號(hào)電池，使用時(shí)間大于36小時(shí)
自動(dòng)關(guān)機(jī)：5分鐘無(wú)操作后自動(dòng)關(guān)機(jī)
工作溫度：-10℃～+50℃，有特殊要求可達(dá)-20℃
尺寸：153mm×76mm×37mm （H×W×D）
重量：含電池280g

標(biāo)準(zhǔn)配置
UM-5測(cè)厚儀
標(biāo)配探頭
儀器箱
兩節(jié)1.5V堿性電池
耦合劑
操作手冊(cè)

附件
多種可供選擇的探頭；階梯試塊；耦合劑及高溫耦合劑