日本JEOL 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 返回列表頁

日本JEOL 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡特性

日常使用的SEM，好用！ 該設(shè)備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測和分析信息，用戶界面操作簡單、設(shè)計(jì)緊湊、配備大樣品室。

Zeromag日本JEOL 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有將樣品臺圖像、光學(xué)像和SEM像聯(lián)動的功能，樣品臺上有多個樣品和觀察特定區(qū)域時，很容易搜尋視野。

※若顯示光學(xué)像，需要選件樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)SNS。

■ Integrated EDS & Live Analysis

一體化EDS和實(shí)時分析

SEM操作界面上有EDS分析操作，觀察分析無障礙。Live Analysis具有實(shí)時顯示特征X線譜圖功能。

■ SMILE VIEW™ Lab

快速生成數(shù)據(jù)報(bào)告。