K系列 博曼BOWMAN高精度鍍層測(cè)量?jī)xK 系列是客戶測(cè)量各種樣品的理想之選，在高度不超過(guò)9英寸（228 mm）的工件上具有優(yōu)于同類產(chǎn)品的12英寸（304 mm...

奧林巴斯 測(cè)厚儀 Magna-Mike 8600Magna-Mike 8600是一款利用簡(jiǎn)單的磁法對(duì)非鐵性材料進(jìn)行可靠且重復(fù)性很高的厚度測(cè)量的便攜式測(cè)厚儀。Ma...

布魯克 X射線鍍層測(cè)厚儀M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺(tái)式X射線鍍層測(cè)厚儀，結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。

鍍層測(cè)厚儀M1M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號(hào)（鈦）-92號(hào)（鈾）中的元素...

大尺寸鍍層測(cè)厚儀M2 BLIZZARD采用開(kāi)槽設(shè)計(jì)，適用于扁平形狀和尺寸過(guò)大的樣品。

布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE（立方）是一種以脈沖復(fù)位模式運(yùn)行的單片電荷靈敏式前置放大器，借助外部電阻器，也可以以連續(xù)復(fù)位...

DANTE數(shù)字脈沖處理器DANTE數(shù)字脈沖處理器伽馬射線探測(cè)器信號(hào)，數(shù)字脈沖處理器，前置放大器芯片，X射線信號(hào)，前置放大器芯片，SDD探測(cè)器，同步輻射光源。

薄膜測(cè)厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無(wú)損的、快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量技術(shù)。

反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測(cè)厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe RT該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

反射膜厚儀MProbe NIR采用近紅外光譜（NIR）的測(cè)厚儀可以用于測(cè)量一些可見(jiàn)光和紫外光無(wú)法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見(jiàn)光范圍內(nèi)有吸收的太陽(yáng)能薄膜（CIGS,...

顯微反射膜厚儀MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測(cè)厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測(cè)量，多層測(cè)量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(kù)（超過(guò)500材料），新材料可以...

涂層測(cè)厚儀SURFIX®X系列測(cè)量?jī)x器: 彩屏, PC 連接，易操作,以及適合PHYNIX探頭

涂層測(cè)厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽(yáng)氧化涂層的快速測(cè)量

涂層測(cè)厚儀SURFIX®簡(jiǎn)易系列Surfix® 簡(jiǎn)易系列的測(cè)量探頭均由硬質(zhì)合金制成，這意味著它具有幾乎無(wú)限的使用壽命。

便攜式涂層測(cè)厚儀PaintCheck不能測(cè)量涂層的厚度，也能提供有關(guān)涂層結(jié)構(gòu)的有價(jià)值信息

涂層測(cè)厚儀 探頭我們提供多種不同的儀器和探頭，幾乎能夠測(cè)量金屬材料的涂層厚度。

膜厚儀EDX8000B應(yīng)用場(chǎng)景EDX8000B鍍層測(cè)厚儀可以用于PCB鍍層厚度測(cè)量，PCB鍍層分析，金屬電鍍鍍層分析；測(cè)量的對(duì)象包括鍍層、敷層、貼層、涂層、化學(xué)...