EDX-6000 貴金屬珠寶檢測(cè)儀 返回列表頁

EDX-6000 貴金屬珠寶檢測(cè)儀

能量色散X熒光光譜儀

檢測(cè)

>小光斑（1mm），定點(diǎn)測(cè)試

>垂直光路設(shè)計(jì)，有效降低非平面樣品對(duì)測(cè)試結(jié)果影響

>精準(zhǔn)，快速，無損

>一鍵測(cè)試，快速上手

>無需每天重復(fù)標(biāo)定，提高檢測(cè)效率

>拓展應(yīng)用---鍍層和電鍍液分析

>堅(jiān)固耐用，適應(yīng)復(fù)雜工作環(huán)境

EDX6000-小光斑 檢測(cè)儀---能量色散XRF

并不是所有閃閃發(fā)光的都是 ，如果您想確切知道其中包含的 量，可以依靠我們的X射線熒光（XRF）光譜儀：EDX6000，您可以快速檢查珠寶的真實(shí)性并分析貴金屬和其他雜質(zhì)金屬的含量–而且不同于火試金測(cè)量法，我們的設(shè)備對(duì)樣品是無損地。

全新設(shè)計(jì)的EDX6000光譜儀，使用了垂直光路的設(shè)計(jì)，有效提高了非平面樣品（比如戒指）的定位和測(cè)試精度。同時(shí)，垂直光路使光管與樣品位置更近，能更高效激發(fā)樣品。

EDX6000光譜光路設(shè)計(jì)1-1                       普通光譜儀光路設(shè)計(jì)1-2

內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖1-3

檢測(cè)對(duì)象：  、鉑金、鈀金、K金、K白金，合金，電鍍液等

產(chǎn)品特點(diǎn) ：

1. 微光斑（1mm，0.5mm），1mm樣品檢測(cè)面積。利用我們的集成攝像頭和小點(diǎn)功能，來捕獲圖像并專注于小區(qū)域檢測(cè)。

2. 垂直光路設(shè)計(jì)，提高復(fù)雜樣品檢測(cè)精度

3. 多準(zhǔn)直器可選（0.5mm,1mm,2mm）

4. FP（基本參數(shù)法）核心算法，無需標(biāo)定，一次測(cè)試多達(dá)30種金屬元素

5. 第三代DPP（digital pulse processor）數(shù)字脈沖處理器，更穩(wěn)定

6. 全新光管風(fēng)冷技術(shù)，有效延長(zhǎng)光管使用壽命

珠寶飾檢測(cè)EDX6000

>儀器參數(shù)

儀器配置

功能強(qiáng)大界面友好的FP測(cè)試軟件

測(cè)試譜圖14K

一鍵測(cè)試，客戶只需要打開儀器蓋子，放入樣品，點(diǎn)擊‘開始’按鈕即可完成測(cè)試

核心FP算法，使得EDX6000匹配實(shí)驗(yàn)室火試金法的測(cè)試精度

元素含量， K值，測(cè)試譜圖一目了然

一鍵打印測(cè)試報(bào)告

多點(diǎn)測(cè)試功能?？蛻艨梢詼y(cè)量樣品多個(gè)點(diǎn)位，軟件自動(dòng)計(jì)算平均值。