光學(xué)輪廓儀NPFLEX 3D

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產(chǎn)品型號

品       牌Bruker/布魯克

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地上海市

更新時(shí)間：2025-07-04 16:58:33瀏覽次數(shù)：284次

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 產(chǎn)品種類 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,電氣
光學(xué)輪廓儀NPFLEX 3D
NPFLEX三維表面測量系統(tǒng)是一款針對大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測試分析系統(tǒng)，提供高效的三維表面信息測量，具備垂直方向亞納米分辨率，能靈活測量大尺寸及特殊角度的樣品。該系統(tǒng)基于白光干涉原理，可快速獲取詳細(xì)測量數(shù)據(jù)，適用于精密制造業(yè)，提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力。它還提供了多種配件選擇，以滿足不同客戶的測量需求。

光學(xué)輪廓儀NPFLEX 3D


核心參數(shù)

產(chǎn)品種類：非接觸式輪廓儀/粗糙度儀

工作原理：白光干涉儀


產(chǎn)品介紹


簡介

NPFLEX三維表面測量系統(tǒng)是一款針對大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測試分析系統(tǒng)，提供高效的三維表面信息測量，具備垂直方向亞納米分辨率，能靈活測量大尺寸及特殊角度的樣品。該系統(tǒng)基于白光干涉原理，可快速獲取詳細(xì)測量數(shù)據(jù)，適用于精密制造業(yè)，提高產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力。它還提供了多種配件選擇，以滿足不同客戶的測量需求。



NPFLEX 三維表面測量系統(tǒng)


針對大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測試分析系統(tǒng)

靈活測量大尺寸、特殊角度的樣品

高效的三維表面信息測量

垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)

快速獲取測量數(shù)據(jù)，測試過程迅速高效



NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準(zhǔn)確測量

布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來的檢測能力，實(shí)現(xiàn)更快的測量時(shí)間，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力?；诎坠飧缮娴脑恚@套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測量儀（CMM）和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術(shù)。測量優(yōu)勢包括獲得高分辨的三維圖像，進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，NPFLEXTM是第一個可以靈活地測量大尺寸樣品的光學(xué)測量系統(tǒng)，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。


其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品

創(chuàng)新性的空間設(shè)計(jì)使得可測零件（樣品）更大、形狀更多


開放式龍門、客戶定制的夾具和可選的搖擺測量頭可輕松測量想測部位


高效的三維表面信息測量

 

每次測量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的


更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析


垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)

 

干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)每一個測量象素點(diǎn)上的亞納米級別垂直分辨率


工業(yè)界使用多年業(yè)已驗(yàn)證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計(jì)意義的數(shù)據(jù)，為日漸苛刻的加工工藝提供保障


測量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測試的迅速和高效

 

最少的樣品準(zhǔn)備時(shí)間和測量準(zhǔn)備時(shí)間


比接觸法測量（一條線）更大的視場（一個面）獲得表面更多的數(shù)據(jù)


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