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常見電子顯微鏡的分類,常見電子顯微鏡包括哪幾種？- STM/SEM /TEM!
閱讀：10494 發(fā)布時間：2012-5-21
常見電子顯微鏡家族還包括下列這三種
STM ：scanning tunneling microscope 掃描穿遂式電子顯微鏡 是一種利用量子力學中的穿隧效應探測物質表面結構的儀器，可以在 低溫下利用探針準確操作原子，例如做一些圖形。
SEM ：scanning electron microscopy 掃描式電子顯微鏡 利用電磁透鏡聚焦高能的電子束而在試片掃描樣品依其所激發(fā)出的二 次電子與背向散射電子的接收對試片表面進行分析，可獲得試片表面 的化學成分，晶體缺陷等信息，是對固體物質表面進行綜合分析的儀器。
STEM：scanning & transmission electron microscop 描穿透式電子顯微鏡 即包含掃描式電子顯微鏡與穿透式電子顯微鏡的優(yōu)點。
HRTEM：high resolution transmission electron microscop 高解析穿透式電子顯微鏡 比TEM觀測尺度更小，可以觀測到小于1埃的尺度 （1埃=10-10m）
TEM工作原理 在1924年 Louis de Broglie提出電子具有波動的特性（1929年諾貝爾物理獎），與光學顯微鏡的原理，利用光的波長來決定影像的解析度。Broglie的坡動說，無疑地提供了電子顯微鏡的理論基礎；1926年，Busch發(fā)現電子經過電磁場會發(fā)生偏折，這與光線經過透鏡發(fā)生偏折類似。 顧名思義，穿透式電子顯微鏡里的穿透，便是高能電子束能量遠大于物體本身的位壘，
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