復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

新品發(fā)布!飛納電鏡帶你走進(jìn)掃描電鏡 AI 智能時代!

時間:2024-6-24 閱讀:1051
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新品發(fā)布!飛納電鏡帶你走進(jìn)掃描電鏡 AI 智能時代!

“隨著科技的飛速發(fā)展,電子顯微技術(shù)已成為科研和工業(yè)領(lǐng)域的重要工具。多年來,飛納不斷推出具有創(chuàng)新性和競爭力的產(chǎn)品,贏得了全球用戶的廣泛贊譽(yù)。飛納電鏡始終秉持創(chuàng)新精神,不斷突破技術(shù)壁壘,為全球用戶帶來更加先進(jìn)、高效的產(chǎn)品。"


一直被模仿!飛納電鏡煥新賦能中國科研,自從臺式場發(fā)射問世,備受好評,目前臺式場發(fā)射又有新突破,飛納臺式場發(fā)射掃描透射一體機(jī)——Pharos STEM,掃透模式下分辨率突破 1nm,為臺式掃描電鏡解鎖更多應(yīng)用!

新品發(fā)布!飛納電鏡帶你走進(jìn)掃描電鏡 AI 智能時代!

今日我們榮幸地宣布,飛納臺式掃描電鏡技術(shù)再次實(shí)現(xiàn)重大突破,將掃描電鏡行業(yè)進(jìn)入全新的 AI 智能時代!掃描電鏡,不止是一臺電鏡!


 

飛納電鏡,不止是掃描電鏡!

一起來解鎖飛納電鏡新技術(shù)!

Part.1  Phenom MAPS 系統(tǒng)

“人如其名",MAPS 是地圖的意思,該系統(tǒng)會像地圖一樣,通過層級的方式,實(shí)現(xiàn)對樣品的拍攝與數(shù)據(jù)回看。Phenom MAPS 提供的是一個涵蓋所有樣品信息的數(shù)碼存檔,從全面(宏觀)到具體(微觀)無所不包,變革了傳統(tǒng)掃描電鏡的分析與數(shù)據(jù)存儲模式。并且,多圖層數(shù)據(jù)可以包含能譜。

 

這里是一個地質(zhì)樣品的能譜拼圖結(jié)果,Phenom MAPS 可以實(shí)現(xiàn)對整個樣品的能譜采集,導(dǎo)出任意拼接的原始能譜數(shù)據(jù),以方便進(jìn)行離線分析。

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Part.2  ChemiSEM 技術(shù)

一鍵點(diǎn)擊,掃描電鏡也有“彩色照"啦!

在 SEM 成像同時也可以實(shí)時收集 EDS 能譜信號,無需反復(fù)切換成像和分析模式,可以快速獲取樣品的成分信息。

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Phase Mapping 技術(shù)相分布更直觀

在使用能譜檢測樣品的同時,可顯示出不同相在樣品中的分布情況,使得物相分布直觀可見,同時具有相歸類,計算相比例等功能,非常適用于合金、陶瓷、礦物分析等領(lǐng)域的測試分析。

即使沒有豐富的經(jīng)驗(yàn),也能定位微量和痕量元素。 完整全面的分析,明確無誤地識別主要和次要組分,直至單個像素級別。在峰重疊導(dǎo)致重要元素模糊不清的情況下,定位組分。只需極少量的 X 射線數(shù)據(jù)即可開始相態(tài)判斷。即使是復(fù)雜的相圖,也能在不到一分鐘內(nèi)完成。 

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Phase Mapping 自動給出相分布結(jié)果

Part.3  Avizo Trueput 軟件

為您的電池質(zhì)量保駕護(hù)航!

專門為電池質(zhì)控而研發(fā)的,為您帶來自動化的電池質(zhì)量控制和檢測的創(chuàng)新型解決方案。開發(fā)此軟件時充分考慮到生產(chǎn)車間的需求,Avizo Trueput 軟件可以幫助您縮短 QA/QC 檢測時間,而且操作非常簡單: 使用飛納電鏡獲取圖像后,選擇用于自動檢測的分析方式,一鍵自動生成您的檢測報告,使您可以在生產(chǎn)現(xiàn)場輕松獲取可重復(fù)的結(jié)果。

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Part.4 CISA,關(guān)聯(lián)一切可視化圖片

光鏡、拉曼、紅外、XPS,甚至 CAD 或手繪草圖,通通可以關(guān)聯(lián)。下圖案例:通過 MAPS CISA,將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結(jié)合,分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

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通過結(jié)合 XPS 和 SEM 的分析,可以精確地將化學(xué)信息與顯微鏡提供的高分辨率結(jié)構(gòu)信息融合。CISA 關(guān)聯(lián)工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。

 

新品發(fā)布會直播預(yù)告

飛納電鏡將在第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會議,重磅發(fā)布新產(chǎn)品以及應(yīng)用案例!

 

“第十屆電子顯微學(xué)網(wǎng)絡(luò)會議(iCEM 2024)"結(jié)合目前電子顯微學(xué)主要儀器技術(shù)及應(yīng)用熱點(diǎn),邀請電子顯微學(xué)專家、電子顯微學(xué)儀器技術(shù)專家、電子顯微學(xué)應(yīng)用專家等,重點(diǎn)邀請近來有重要工作成果進(jìn)展的優(yōu)秀青年學(xué)者代表線上分享精彩報告。

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iCEM 2024

復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司應(yīng)用專家張傳杰將帶來主題【新品發(fā)布:飛納臺式掃描電鏡的技術(shù)突破及全新智能型離子研磨制樣平臺介紹】報告時間:2024 年 6 月 26 日 10:30-11:00,歡迎大家報名預(yù)約觀看。

新品發(fā)布!飛納電鏡帶你走進(jìn)掃描電鏡 AI 智能時代!

歡迎您隨時聯(lián)系我們獲取更多產(chǎn)品詳情和應(yīng)用案例



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