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QQ交談UV760CRT雙光束紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)UV760CRT雙光束紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)
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- 上海君翼儀器設(shè)備有限公司
- 2015-07-20 05:34:23
- 上海市
- UV760CRT雙光束紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)
- 1173
【簡(jiǎn)單介紹】
品牌 : 上海精科/棱光牌
備注 : 760CRT雙光束紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)是引進(jìn)吸收島津技術(shù)基礎(chǔ)上推出的自動(dòng)記錄分光光度計(jì)，基于Win98平臺(tái)，界面友好美觀，操作簡(jiǎn)單，通過(guò)打印機(jī)可打印出圖文合一的分析報(bào)告，并可將圖譜數(shù)據(jù)或測(cè)試數(shù)據(jù)傳送Execl進(jìn)行處理，可將圖譜貼至Word中發(fā)表，具有波長(zhǎng)掃描、時(shí)間掃描、定量分析、定波長(zhǎng)和多波長(zhǎng)測(cè)試等功能。
【詳細(xì)說(shuō)明】
UV760CRT雙光束紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)簡(jiǎn)述：
760CRT型雙光束紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)是引進(jìn)吸收日本島津公司良好技術(shù)基礎(chǔ)上推出的自動(dòng)記錄分光光度計(jì)，軟件基于Windows98平臺(tái)，界面友好、美觀，操作簡(jiǎn)單，通過(guò)打印機(jī)可打印出圖文合一的分析報(bào)告，并可將圖譜數(shù)據(jù)或測(cè)試數(shù)據(jù)傳送Execl進(jìn)行處理，可將圖譜貼至Word中發(fā)表，儀器具有波長(zhǎng)掃描、時(shí)間掃描、定量分析、定波長(zhǎng)測(cè)試、多波長(zhǎng)測(cè)試等功能，優(yōu)異的性能，適合用于藥學(xué)、生物化學(xué)、環(huán)境保護(hù)、化學(xué)工業(yè)等實(shí)驗(yàn)室的日常分析和研究工作的需要。
UV760CRT雙光束紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)主要特點(diǎn)：
●采用全息閃耀光柵，雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，高分辨率，低雜散光，測(cè)光精度高，穩(wěn)定性能好。
●微機(jī)控制，自動(dòng)記錄，打印機(jī)可在一張記錄紙上打印出光譜圖、測(cè)試數(shù)據(jù)及操作參數(shù)。
●光源自動(dòng)轉(zhuǎn)換（可在294nm～364nm間任意設(shè)定）
●功能*的光譜處理能力。
軟件特點(diǎn)：
●信息存貯容量大，保存方便。
●軟件提供四個(gè)圖譜通道臨時(shí)貯存圖譜，可進(jìn)行覆蓋和重疊方式的透過(guò)率、吸光度、吸收度對(duì)數(shù)和能量圖譜掃描，透過(guò)率和吸光度的圖譜可輕松地相互轉(zhuǎn)換，對(duì)圖譜可進(jìn)行圖譜和圖譜、圖譜和系數(shù)的四則運(yùn)算、導(dǎo)數(shù)運(yùn)算。
●圖譜的峰谷檢測(cè)、縮放輕松自如。
●時(shí)間掃描可進(jìn)行動(dòng)力學(xué)研究。
●定量分析提供了濃度線性回歸法、方法中提供了待定系數(shù)法和系數(shù)輸入法可進(jìn)行曲線擬合及異常點(diǎn)剔除、2λ和3λ的測(cè)定，3λ提供了自動(dòng)的波長(zhǎng)設(shè)定并提供10組波長(zhǎng)數(shù)據(jù)供用戶選擇使用。
●軟件提供了定波長(zhǎng)和多波長(zhǎng)測(cè)試，并可對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行注釋，對(duì)同一樣品多用戶的測(cè)試提供了方便，多波長(zhǎng)測(cè)試則可進(jìn)行多達(dá)20個(gè)點(diǎn)波長(zhǎng)的測(cè)試。
●可輕松地將貯存圖譜的參數(shù)設(shè)置為儀器當(dāng)前測(cè)試條件。
●打印機(jī)可進(jìn)行參數(shù)與圖譜打印、參數(shù)與圖譜及數(shù)據(jù)打印、參數(shù)與數(shù)據(jù)打印和工作曲線的打印。
技術(shù)指標(biāo)：
●測(cè)光方式：雙光束C-T式光路結(jié)構(gòu)，全息閃耀光柵分光器，光電倍增管檢測(cè)。
●波長(zhǎng)范圍：190nm～900nm
●分辯率：優(yōu)于0.15nm
●光譜帶寬：0.08nm～5nm間隔0.01nm連續(xù)可調(diào)
●波長(zhǎng)zui大允許誤差：±0.3nm（內(nèi)裝自動(dòng)波長(zhǎng)校正裝置）
●波長(zhǎng)重復(fù)性：0.2nm
●雜散光：≤0.08%（T）（以NaI溶液在220nm處）
●透射比zui大允許誤差：±0.3%τ（以NBS930D測(cè)定）
●透射比重復(fù)性：0.2%（T）
●掃描速度：快、中、慢
●穩(wěn)定性：≤±0.004A/30min
●噪聲：±0.3%（100%處） ±0.1%（0%處）
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