產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
臺(tái)式偏振X射線熒光光譜儀-SPECTRO XEPOS |
德國(guó)斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種極其成功的技術(shù),把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時(shí)偏振濾光片是不可替代的工具一樣,這種*的分析技術(shù)已成為實(shí)驗(yàn)室測(cè)定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù),并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺(tái)式偏振X射線熒光光譜儀。 | SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件,可獲得的靈敏度和準(zhǔn)確性。采用偏振次級(jí)靶以確保*激發(fā),12位樣品自動(dòng)交換器,預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊,使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。 SPECTRO XEPOS配有預(yù)先安裝好的應(yīng)用包,包括:在工廠預(yù)先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析:土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測(cè)等。 XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析,檢出下限低,靈敏度高、穩(wěn)定性好,可應(yīng)對(duì)歐洲WEEE、RoHS指令。 |