詳細摘要： DEA ALPHA龍門式測量機采用創(chuàng)新的產(chǎn)品設(shè)計，ALPHA 系列為用戶提供了更高性價比的測量選擇。該產(chǎn)品提供了中等尺寸的行程范圍，可支持多測頭配置，具有優(yōu)異的...

詳細摘要： 便攜式關(guān)節(jié)臂測量機硬件特點·內(nèi)置溫度補償系統(tǒng)，可適應(yīng)各種環(huán)境·智能快速轉(zhuǎn)換測頭，通用USB接口·內(nèi)置平衡機構(gòu)，操作非常輕巧...

詳細摘要： X射線熒光光譜分析儀XRF檢測儀依賴于快速、精確的元素分析行業(yè)，從采礦和勘探到廢金屬回收等行業(yè)。Niton™ XL3t GOLDD+ XRF 分析儀...

詳細摘要： 日本日立X射線熒光分析儀EA1000VXX射線熒光分析儀與之前的機器SEA1000AII相比，每個樣品的測量時間*都縮短了。例如，樹脂類樣品測量時間縮短了約1/...

詳細摘要： QNix4500涂層測厚儀為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層
...

詳細摘要： X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量精度和測量結(jié)果業(yè)界*。 ...

詳細摘要： RoHS檢測儀X熒光射線光譜儀ux-210成熟的經(jīng)典分析方法：憑借國家“七·五"“九·五"科技攻關(guān)計劃之科技成果，集成近二十五年分析測試應(yīng)用...

詳細摘要： 貴金屬元素分析儀UX-620本儀器專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，其分辨率為149&#...

詳細摘要： X射線熒光鍍層測厚儀測量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92； 測量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線； 測量精度高、穩(wěn)定性...

詳細摘要： 貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試，采用的科技分析X熒光光譜，對貴金屬成份進行無損快速分析，該儀器采用Si-PIN探測器，運用*于的基本參數(shù)法，能夠準確無誤地分...

詳細摘要： 華唯ROHS檢測儀X射線熒光光譜分析儀ROHS檢測分析儀經(jīng)過優(yōu)化光路的改善，產(chǎn)品測試通道上增加到了從Cl-U的元素范圍。即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg...

詳細摘要： 美國博曼鍍層膜厚儀 測厚儀美國Bowman 測厚儀 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。美國...

詳細摘要： 進口美國博曼鍍層測厚儀BA-100美國博曼（Bowman）BA-100 臺式X射線熒光（XRF）——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液...

詳細摘要： 華唯鍍層厚度檢測儀Ux-720鍍層厚度檢測儀采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都...

詳細摘要： HG-6600便攜式TVOC檢測儀一、特點1、采用*高精度PID光離子原理傳感器；2、USB接口高速數(shù)據(jù)傳輸，可下載打印數(shù)據(jù)（選配）；3、液晶點陣顯示技術(shù)，可顯...

詳細摘要： LC-2010HT高效液相色譜儀是一體式的HPLC系統(tǒng)，擁有的技術(shù)。LC-2010HT可為您提供高效能和實用功能，幫助您實現(xiàn)分析高效率。LC-2010HT的研發(fā)...

詳細摘要： RoHS檢測儀X射線熒光光譜分析儀UX-220ROHS分析儀價格經(jīng)過優(yōu)化光路的改善，產(chǎn)品測試通道上增加到了從Cl-U的元素范圍。即可以管控RoHS指令的Pb、C...

詳細摘要： EA1000AIII射線熒光分析儀是一臺針對ROHS無鹵指令中所禁止使用的有害物質(zhì)元素進行快速便捷非破壞測量的能量色散型X。除具備以往SEA1000系列的功能外...

詳細摘要： WFX-130B原子吸收光譜儀價格方便實用的 BRAIC 操作軟件,適用于Windows 98/Me/XP操作系統(tǒng)的中文儀器操作與分析應(yīng)用軟件，實現(xiàn)儀器參數(shù)設(shè)置...