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差熱實(shí)驗(yàn)裝置 差熱實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào):HAD-ZCR-Ⅲ
差熱實(shí)驗(yàn)裝置 差熱實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào):HAD-ZCR-Ⅲ
本裝置采用單片機(jī)程序控溫。測(cè)量參比物和物質(zhì)在物理或化學(xué)作用下所產(chǎn)生的熱效應(yīng)(吸熱或放熱)以及相對(duì)溫度變化。
裝置組成及特點(diǎn):
* ZCR差熱實(shí)驗(yàn)儀
* 差熱實(shí)驗(yàn)爐
1、溫度范圍:室溫~650℃
2、溫度分辨率:0.1℃
3、控溫速率:1~20℃/min
4、程序方式:微型處理器程序控制PID
5、DTA分辨率:1uV
6、DTA量程:0~2000uV(不分檔)
7、輸出方式:計(jì)算機(jī)、打印機(jī)系統(tǒng)
8、自帶降溫功能
注:氣氛裝置(選配)差熱實(shí)驗(yàn)裝置 差熱實(shí)驗(yàn)儀 型號(hào):HAD-ZCR-Ⅲ
本裝置采用單片機(jī)程序控溫。測(cè)量參比物和物質(zhì)在物理或化學(xué)作用下所產(chǎn)生的熱效應(yīng)(吸熱或放熱)以及相對(duì)溫度變化。
裝置組成及特點(diǎn):
* ZCR差熱實(shí)驗(yàn)儀
* 差熱實(shí)驗(yàn)爐
1、溫度范圍:室溫~650℃
2、溫度分辨率:0.1℃
3、控溫速率:1~20℃/min
4、程序方式:微型處理器程序控制PID
5、DTA分辨率:1uV
6、DTA量程:0~2000uV(不分檔)
7、輸出方式:計(jì)算機(jī)、打印機(jī)系統(tǒng)
8、自帶降溫功能
注:氣氛裝置(選配)