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材料高頻、音頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
詳細(xì)摘要:材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點自動設(shè)定,諧振點自動搜索,Q值量程自動
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
高頻材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
詳細(xì)摘要:高頻材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數(shù)損耗因數(shù)試驗儀
詳細(xì)摘要:介電常數(shù)損耗因數(shù)試驗儀系統(tǒng)由BH916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的Z佳解決方案。
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:13 參考價:面議
介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測定儀
詳細(xì)摘要:介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測定儀工作特性
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023;
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
c.標(biāo)稱誤差
頻率范圍25kHz~10MHz100kHz~10MHz
固有誤差≤5%±滿度值的2%≤5%±滿度值的2%
工作誤差≤7%±滿度值的2%≤7%±滿度值的2%
頻率范圍10MHz~60MHz
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介質(zhì)損耗介電常數(shù)試驗儀
詳細(xì)摘要:介質(zhì)損耗介電常數(shù)試驗儀例如:在1MHz測試頻率時,要配250μH電感器,在50MHz測試頻率時,要配0.1μH電感器等。
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
高頻塑料介電常數(shù)測定儀
詳細(xì)摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置:
2.3.1 平板電容器極片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性: 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 裝置插頭間距:25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數(shù)損耗因數(shù)測試儀
詳細(xì)摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測定儀
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數(shù)測試儀生產(chǎn)商
詳細(xì)摘要:介電常數(shù)測試儀
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀生產(chǎn)廠家
詳細(xì)摘要:北廣部分產(chǎn)品一覽表

產(chǎn)品名稱產(chǎn)品型號備注
電壓擊穿試驗儀BDJC-10-100KV計算機控制/自動
體積表面電阻率測試儀BEST-121液晶顯示
滑動摩擦磨損試驗機M-200橡膠塑料,復(fù)合材料
萬能拉力試驗機WDW金屬,非金屬材料
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀GDAT-A固體液體材料
熱變形維卡溫度儀BWK-300計算機/液晶
塑料球壓痕硬度計BQY-96液晶
熔體流動
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
生產(chǎn)介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
詳細(xì)摘要:介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率測試儀的詳細(xì)描述:
電: /
介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

概述
A型高頻Q表和C型高頻Q表主要區(qū)別
AC
測試頻率范圍25kHz~60MHz100kHz~160MHz
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數(shù)測試儀價格
詳細(xì)摘要:◇主要特點:空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。

◇主要技術(shù)特性:介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)試驗儀
詳細(xì)摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀電感器:
按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。
例如:在1MHz測試頻率時,要配250µH電感器,在50MHz測試頻率時,要配0.1µH電感器等。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)試驗儀
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
固體材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
詳細(xì)摘要:固體材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
材料介電常數(shù)測定儀
詳細(xì)摘要:材料介電常數(shù)測定儀
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測定儀
詳細(xì)摘要:工作特性
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023;
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
c.標(biāo)稱誤差
AC
頻率范圍25kHz~10MHz100kHz~10MHz
固有誤差≤5%±滿度值的2%≤5%±滿度值的2%
工作誤差≤7%±滿度值的2%≤7%±滿度值的2%
頻率范圍10MHz~60MHz10MHz~160MHz
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測定儀
詳細(xì)摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀特點:

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀
詳細(xì)摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標(biāo):

2.1 tanδ和ε性能:
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍:
tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50
2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):
tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%
工作頻率范圍:50kHz~50MHz 四位數(shù)顯,壓控振蕩器
Q值
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數(shù)試驗機
詳細(xì)摘要:介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀電感器:
按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。
例如:在1MHz測試頻率時,要配250µH電感器,在50MHz測試頻率時,要配0.1µH電感器等。

高頻介質(zhì)樣品(選購件):
在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。
該樣品由人工藍(lán)寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測定儀
詳細(xì)摘要:儀器滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法。適用于測定熱塑性、熱固性塑料在1MHz條件下的電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)。
2.高頻電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)測試系統(tǒng)構(gòu)成
2.1.概述:高頻電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)測試系統(tǒng)由S916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電
產(chǎn)品型號:GDAT-A所在地:北京 參考價:面議
固體介電常數(shù)測試儀
詳細(xì)摘要:產(chǎn)品保修售后服務(wù)承諾:

一、安裝調(diào)試:協(xié)助試驗機的安裝,負(fù)責(zé)試驗機的運輸、調(diào)試。


二、驗收標(biāo)準(zhǔn):試驗機按訂貨技術(shù)附件進(jìn)行驗收。終驗收在買方進(jìn)行,對用戶提供的試樣進(jìn)行試驗,并提供測試報告。


三、培訓(xùn):安裝調(diào)試同時,在儀器操作現(xiàn)場一次性免費培訓(xùn)操作人員2-3名,該操作人員應(yīng)是由需方選派的長期穩(wěn)定的員工,培訓(xùn)后能夠?qū)υO(shè)備基本原理、軟件使用、操作、維護(hù)事項理解和應(yīng)用,使人員能夠獨立操作設(shè)備對樣品
產(chǎn)品型號:GDAT-*A所在地:北京 參考價:面議

北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司主營產(chǎn)品:絕緣強度耐電壓擊穿試驗儀-高壓電橋法介電常數(shù)測試儀-高電壓擊穿強度試驗儀 化工儀器網(wǎng) 設(shè)計制作,未經(jīng)允許翻錄必究.Copyright(C) http://true-witness.com, All rights reserved.

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