SNA5000X系列頻譜矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 返回列表頁

  SNA5000X系列頻譜矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀主要特性：　

　　從S參數(shù)測試到平衡-不平衡測試

　　SNA5000X系列支持在多個(gè)窗口添加多條跡線進(jìn)行全4端口S參數(shù)測試，并且具備多種顯示格式，比如LogMag，LinMag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時(shí)等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗(yàn)證天線，濾波器等的特性時(shí)，還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進(jìn)行通過失敗測試，有利于提高生產(chǎn)效率。

　　SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能，比如在測試有源差分放大器時(shí)，可將輸入輸出端口進(jìn)行阻抗變換，從而進(jìn)行差分(平衡)測量(比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等參數(shù))。此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測試。

　　時(shí)域分析功能

　　SNA5000X系列支持TDR時(shí)域反射計(jì)測量功能，可在時(shí)域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時(shí)延等參數(shù)進(jìn)行分析。

　　眼圖分析

　　SNA5000X搭載了眼圖功能，眼圖可以反映信號鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號的整體特征，從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響，進(jìn)而估計(jì)系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號完整性分析的核心，為需要對高速信號進(jìn)行時(shí)域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時(shí)間。

　　消除夾具效應(yīng)

　　在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進(jìn)行測試時(shí)需要特定的測試夾具實(shí)現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。