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方塊電阻的計(jì)算方法

時間:2020/11/5閱讀:7989
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方塊電阻又稱膜電阻,是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值,該數(shù)值大小可直接換算為熱紅外輻射率。
 
方塊電阻的計(jì)算方法:
 
方塊電阻:Rs=ρ/t(其中ρ為塊材的電阻率,t為塊材厚度)
或者寫成電導(dǎo)率的表達(dá)式:Rs = 1/(σt)
這樣 在計(jì)算塊材電阻的時候,我們就可以利用方塊電阻乘以長寬比例得到,計(jì)算過程與維度無關(guān):
R=Rs*L/W(L為塊材長度,W為塊材寬度)
 
方塊電阻測試儀是用來測量半導(dǎo)體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴(kuò)散層、外延層、 ITO 導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。大顯示屏,直觀度數(shù),穩(wěn)定性好,可以外接其他控制單元,與其他系統(tǒng)集成使用;適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜等。
 

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