四探針涂層電阻率測(cè)試儀，配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單...

四探針涂層電阻測(cè)試儀，采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更...

四探針薄膜電阻率測(cè)試儀，半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)性能和均勻性通過(guò)四探針?lè)▉?lái)測(cè)試，四探針測(cè)試儀根據(jù)量程可以劃分為，低阻四探針測(cè)試儀測(cè)到-6次方；高阻四探針測(cè)試儀測(cè)到7次方...

四探針膜層電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1...

四探針膜電阻測(cè)試儀廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電（屏蔽）布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、電阻測(cè)試

涂層雙電測(cè)電四探針?lè)阶桦娮杪蕼y(cè)試儀，該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)...