熒光測(cè)厚儀器 返回列表頁(yè)

熒光測(cè)厚儀器是一款利用X射線原理檢測(cè)金屬鍍層（鍍金、鍍鎳、鍍鉻、鍍鋅、鍍錫、鍍銠、鍍鈀、鍍銅、鍍銀……）厚度的儀器，thick800a是目前天瑞儀器鍍層儀器銷量的一款，采用上照式方式，滿足不同規(guī)格產(chǎn)品的測(cè)試，作為一家上市企業(yè)，生產(chǎn)廠家在售后服務(wù)和價(jià)格方面占有的優(yōu)勢(shì)，是客戶的選擇對(duì)象。

熒光測(cè)厚儀器性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求

熒光測(cè)厚儀高移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度

定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊

鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)

高分辨率探頭使分析結(jié)果更加

良好的射線屏蔽作用

測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 

同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% 。

熒光測(cè)厚儀鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

熒光測(cè)厚儀多變量非線性回收程序

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開(kāi)放式樣品腔。

精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。 

Si-Pin探測(cè)器。

信號(hào)檢測(cè)電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護(hù)傳感器

計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)