測試速度快的能譜儀 返回列表頁

測試速度快的能譜儀器行業(yè)的極速探測器技術(shù)（SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000還采用了天瑞儀器產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，新設(shè)計自動樣品平臺讓檢測得到。 

測試速度快的能譜儀參數(shù)規(guī)格  

1.元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)；

2.元素含量分析范圍為1 PPm到99.99%；

3.測量時間：1秒或以上； 

4.分析檢測限度高達2PPM,薄可測試0.005um；

5.多次測量重復(fù)性可達0.05％（總熒光強度）；

6.工作穩(wěn)定性為0.05％；（總熒光強度）。

儀器硬件配置                                       

1. 極速探測器

2. X 光管

3. 高、低壓電源                             

4. 高精密攝像頭

5. 數(shù)字多道分析器

6. 超大樣品腔

7. 準直器自動切換

8. 濾光片自動切換

9. 準直器和濾光片的自由組合

10. 標準樣品

儀器特點

1.     快—1秒鐘出結(jié)果； 

2.     采用行業(yè)的極速探測器技術(shù)——（SDD）分辨率低至125eV；

優(yōu)勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內(nèi)接受信息多、計數(shù)率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低；

3.     采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)；

優(yōu)勢：提高輸出效率，實現(xiàn)超高計數(shù)率，采集計數(shù)率高可達600KCPS；

4.     采用大功率X光管及的準直濾光系統(tǒng)；

優(yōu)勢：激發(fā)效率更高；

5.光閘系統(tǒng)；

優(yōu)勢：樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測試效率與測試精度；

6.  精密的定位系統(tǒng)； 

超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點；

7.     多點測試；

2D自動移動樣品臺——可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試；

超小樣品檢測——小可測到0.2毫米。