X射線熒光鍍層測(cè)厚儀THICK800A 返回列表頁(yè)

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀THICK800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款金屬鍍層測(cè)試儀器，配備移動(dòng)平臺(tái)，可自動(dòng)軟件操作，并進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試，檢測(cè)結(jié)果更加。重量：90 kg

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀THICK800A技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層

次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層

薄可測(cè)試0.005μm

分析含量般為2ppm到99.9%

鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回收程序

工作穩(wěn)定性高

度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

測(cè)試實(shí)例

鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶的件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測(cè)試效果。

以下使用Thick800AX射線熒光鍍層測(cè)厚儀對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測(cè)試，其測(cè)試位置如圖。

銅鍍鎳件X射線熒光鍍層測(cè)厚儀測(cè)試譜圖

銅鍍鎳件測(cè)試值

結(jié)論

實(shí)驗(yàn)表明，使用Thick800A X射線熒光鍍層測(cè)厚儀對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果度高，速度快（幾十秒），其測(cè)試效果完可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀的簡(jiǎn)單介紹

Thick800AX射線熒光鍍層測(cè)厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款金屬鍍層測(cè)試儀器，配備移動(dòng)平臺(tái)，可自動(dòng)軟件操作，并進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試，檢測(cè)結(jié)果更加。重量：90 kg