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Ni層測厚儀詳細介紹資料中心高精度移動平臺可jingzhun定位測試點,重復定位精度小于0.005mm。
Ni層測厚儀詳細介紹資料中心特點:
1、滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
2、0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
3、高精度移動平臺可jingzhun定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
4、采用高度定位激光,可自動定位測試高度
5、定位激光jingzhun定位光斑,確保測試點與光斑對齊
6、鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
7、高分辨率探頭使分析結果加
8、良好的射線屏蔽作用
9、測試口高度敏感性傳感器保護
Ni層測厚儀詳細介紹資料中心技術指標:
1、元素分析范圍:硫(S)-鈾(U)
2、yi次可同時分析:多24個元素,5層鍍層
3、分析含量:2ppm- 99.9%
4、鍍層厚度:50um以內(每種材料有所不同)
5、任意多個可選擇的分析和識別模型
6、
儀器尺寸:576 (W) x 495(D) x 545(H)mm
7、相互的基體效應校正模型
8、多變量非線性回收程序
9、溫度適應范圍:15C - 30C
10、電源:交流220V+5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
11、重量:90kg
標準配置:
開放式樣品腔
高低壓電源
雙激光定位裝置
X光管
鉛玻璃屏蔽罩
高度傳感器
Si-Pin探測器
保護傳感器
信號檢測電子電路
計算機及噴墨打印機
精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現(xiàn)三維移動