Bruker XRD 布魯克 JV-DX X射線衍射儀 參考價(jià)：面議
Bruker布魯克 JV-DX X射線衍射儀 XRD——X射線測量滿足您的研發(fā)需求Jordan Valley 的 Delta-X 是用于材料研究、工藝開發(fā)和質(zhì)量...
Bruker布魯克 XRD JV-QCVelox X射線衍射儀 參考價(jià)：面議
Bruker布魯克 JV-QCVelox X射線衍射儀 XRD——用于 LED 和外延層晶圓分析的生產(chǎn)專用高分辨率 X 射線衍射系統(tǒng)
Bruker Dektak Pro布魯克臺(tái)階儀 參考價(jià)：面議
Bruker Dektak Pro布魯克臺(tái)階儀Dektak Pro™ 以其多功能，使用的便捷性和在薄膜厚度、臺(tái)階高度、應(yīng)力、表面粗糙度和晶圓翹曲測量...
布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-1000 參考價(jià)：面議
布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-1000落 地 式 ContourX-1000 白 光 干 涉（WLI） 系 統(tǒng) 集 成 了Bruker 在 硬 件 和 ...
布魯克bruker臺(tái)階儀 參考價(jià)：面議
布魯克bruker輪廓儀 利用*的直接驅(qū)動(dòng)掃描樣品臺(tái)，將測量時(shí)間加快 40%，同時(shí)保持行業(yè)的性能。Vision64 是布魯克的 64 位并行處理操作和分析軟件，...
bruker布魯克摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)UMT TriboLab 參考價(jià)：面議
布魯克通用機(jī)械測試儀 （UMT） 平臺(tái)自 2000 年推出型號(hào)以來，一直是市場上功能全、使用廣泛的摩擦儀?，F(xiàn)在，新設(shè)計(jì)的bruker布魯克摩擦磨損試驗(yàn)機(jī)UMT ...
bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500 參考價(jià)：面議
bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500是全面的快速，非接觸式3D表面計(jì)量自動(dòng)化臺(tái)式系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成了布魯克專有的自動(dòng)傾斜光學(xué)測頭，可以*編程并...
Bruker高分辨原子力顯微鏡MultiMode 8 參考價(jià)：面議
MultiMode® 測試平臺(tái)作為歷史悠久的經(jīng)典機(jī)型，由于其分辨率與性能享譽(yù)至今。Bruker布魯克原子力顯微鏡MultiMode 8通過高速Peak...
Bruker布魯克原子力顯微鏡 參考價(jià)：1000000
Bruker Dimension® Icon™原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗(yàn)，具有高水平的性能、功能和配...
布魯克bruker輪廓儀 參考價(jià)：面議
布魯克bruker臺(tái)階儀輪廓儀Dektak XTL 探針式輪廓儀可容納高達(dá) 350mm x 350mm 的樣品，為大型晶圓和面板制造帶來Dektak ®...
Bruker D6 x射線衍射儀 參考價(jià)：面議
bruker D6 PHASER是一個(gè)開創(chuàng)性的臺(tái)式X射線衍射平臺(tái)，它兼具可操作性與靈活性。與傳統(tǒng)臺(tái)式衍射儀不同的是，D6 PHASER提供了超越粉末衍射的優(yōu)良分...
rtespa - 150 bruker 原子力顯微鏡探針 參考價(jià)：1
rtespa - 150 bruker 原子力顯微鏡探針幾何■矩形齒頂圓角半徑nm尺寸:8最大:12
SCANASYST-FLUID bruker 原子力顯微鏡探針 參考價(jià)：1
【SCANASYST-FLUID探針】bruker 原子力顯微鏡探針 ScanAsyst-Fluid探針具有故意設(shè)計(jì)的鈍尖，非常適合于力測量和流體中極其精細(xì)的樣...
rtesp - 300探針 bruker 原子力顯微鏡探針 參考價(jià)：1
rtesp - 300探針 bruker 原子力顯微鏡探針懸臂規(guī)范幾何形狀矩形懸臂梁數(shù)量:1懸臂厚度(Nom):3.4um懸臂厚度(RNG:265~4.15m
bruker 布魯克 NPFLEX-1000三維光學(xué)輪廓儀 參考價(jià)：面議
布魯克 NPFLEX-1000三維光學(xué)輪廓儀該系統(tǒng)采用開放式龍門架設(shè)計(jì)，具有300mm 的樣品臺(tái)與目鏡間距，因此能夠在各種形狀和尺寸的樣品上輕松測量微觀及宏觀特...
Bruker隧穿磁比率測量儀 參考價(jià)：面議
布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber TT具有平面內(nèi)磁鐵的低成本臺(tái)式 CIPT 系統(tǒng)，適用于研究和開發(fā)這種低成本的臺(tái)式設(shè)備配有手動(dòng) xy 定...
Bruker隧穿磁比率測量儀 參考價(jià)：面議
布魯克Bruker隧穿磁比率測量儀SmartProber-P1——用于企業(yè)研發(fā)和故障分析中 300mm 晶圓應(yīng)用的電動(dòng)系統(tǒng)
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE 參考價(jià)：面議
Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR-SE——用于幾乎所有先進(jìn)薄膜或產(chǎn)品晶片測量的先進(jìn)多模計(jì)量FilmTek™ 2000標(biāo)準(zhǔn)桿數(shù)-SE...
Bruker FilmTek CD橢偏儀 參考價(jià)：面議
Bruker FilmTek CD橢偏儀——多模態(tài)臨界尺寸測量和先進(jìn)薄膜計(jì)量學(xué)FilmTekTM CD光學(xué)臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設(shè)計(jì)節(jié)點(diǎn)及...
Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSV 參考價(jià)：面議
Bruker 橢偏儀 FilmTek 2000M TSVFilmTek™ 2000M TSV計(jì)量系統(tǒng)為先進(jìn)的半導(dǎo)體封裝應(yīng)用提供了速度和精度組合。該系...
Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SE 參考價(jià)：面議
Bruker橢偏儀 FilmTek 6000 PAR-SEFilmTek™ 6000標(biāo)準(zhǔn)桿數(shù)-SE先進(jìn)的多模薄膜計(jì)量系統(tǒng)在1x nm設(shè)計(jì)節(jié)點(diǎn)和更高的...
Bruker 全自動(dòng)原子力顯微鏡 InSight CAP 參考價(jià)：面議
Bruker 全自動(dòng)原子力顯微鏡 InSightCAP——緊湊型高性能剖面儀和AFM
Bruker 全自動(dòng)原子力顯微鏡 InSight AFP 參考價(jià)：面議
bruker 全自動(dòng)原子力顯微鏡 InSight AFP——第五代AFP具有業(yè)界高的分辨率、快的成型速度和快速的3D模具映射
Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀 參考價(jià)：面議
Bruker VERTEX 70v 傅立葉變換紅外光譜儀VERTEX70v為要求嚴(yán)格的分析和研究應(yīng)用提供了超高性能。具創(chuàng)新意義的設(shè)計(jì)成就了該系列譜儀佳的靈活性和...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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