目錄:上海明策電子科技有限公司>>INFRAMET光電測試系統(tǒng)>>光電測試系統(tǒng)>> DT系統(tǒng)INFRAMET 光電測試系統(tǒng)
INFRAMET 光電測試系統(tǒng)基本信息:
DT系列檢測設備是用千實驗室條件下對熱像儀各項性能檢測的設備。如果需要的話DT設備還可以檢測TV/LLLTV成像,或者熱像儀和TV/LLLTV成像之間的光軸校正。注:推薦用MS設備來檢測和校準感應器比較多的系統(tǒng)。
DT系列設備采用了一個可調的投射源,所以可以用不同的投射源去投射被測的熱像儀(或者TV/LLLTV成像)。被測的成像儀會產生基千這個投射源的一個扭曲的圖像。一般由人或者軟件通過該圖像去判斷被測成像儀的性能,被測成像儀的所有重要特征檢測項都包含在內。
DT系列設備可以檢測熱像儀、TV/LLLTV成像儀、超長距離設備、乃至航天領域設備。
DT系列設備是模塊化的檢測設備,可以根據不同的待測物輕松的做出優(yōu)化。從基本的短程熱像儀到大型的機載監(jiān)視系統(tǒng)等所有廣泛的監(jiān)測設備都可以輕松應對。DT系列設備可以說是目前市場上高性價比的產品。
DT系列設備應該是INFRAMET成熟的設備,這個已經得到了來自全球各地客戶的廣泛認可。
中長紅外光譜帶的敏感熱成像技術是項很重要的國防和安全技術,這些成像儀也取得了大規(guī)模的應用。所以檢測這些熱成像儀對生產、維護和使用都有著不同的重要的作用。
因此高科技的校準和檢測對這些昂貴的熱像儀的生產、維護、培訓、采購優(yōu)化都有著重要的意義。
INFRAMET 光電測試系統(tǒng)參數:
測量功能: | ||
最小可分辨溫差MRTD | MTF | 信號傳遞函數SiTF |
NETD | 固定模式噪聲FPN | 不均勻性non-uniformity |
視場FOV | 畸變distortion | 放大倍率magnification |
響應函數Response function | 3D Noise | 壞點Bad pixels |
點能見度因子PVF | 狹縫響應函數SRF | 非周期傳遞函數ATF |
信噪比SNR | 最小可探測溫差MDTD | 自動測量MRTD |
三角方向鑒別TOD | 噪聲等效反射率NER | 噪聲等效照度NEI |
噪聲等效光通量密度NEFD | 噪聲等效功率NEP | 比探測率D* |
1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 | |
編號 | 光管 | 圖像采集卡 | 熱像儀測試范圍 | 光源 | 光強范圍 | 可見-近紅外相機測試范圍 | 相機核心測試 | 校軸 | 模擬距離 | 評估軟件 |
A | 基礎精度 | 無 | MRTD | 無 | 無 | 無 | 無 | 無 | 無限遠 | 無 |
B | 高精度 | 模擬視頻采集卡(PAL/NTSC) | MRTD,MTF, SiTF, NETD,FPN, 非均勻性,FOV | 基礎的光譜未調節(jié)白光LED光源 | 70 cd/m2 | 在規(guī)定照度條件下測量分辨率 | 用于熱成像儀 | 參考光軸 | 手動調節(jié)距離 | Simterm |
C | 最高精度 | 增加一個數字視頻采集卡(客戶自選) | MRTD,MTF,SiTF, NETD,FPN,非均勻性,FOV,畸變,放大率 | 改進的白光LED光源,光譜波段450-700nm | 白天:0.2 到2000cd/m2 | 分辨率、MTF、靈敏度、NEI(噪聲等效照度)、SiTF、FOV | 用于可見-近紅外相機 | 參考光軸和機械軸(平面) | 計算機超精確調節(jié)模擬距離 | Mosot |
D | 增加兩個數字視頻采集卡 | C新增:響應函數,3D噪聲,NPSD,壞點,PVF,SRF,ATF,SNR,MDTD,autoMRTD | 準均勻光譜的LED光源,400-850nm波段 | 夜晚:0.0001到10 cd/m2 | MRC,分辨率,MTF,靈敏度,NEI(噪聲等效照度),SiTF, FOV | 用于熱像儀/可見-近紅外相機 | Mosot,Movis | |||
E | 客戶自定視頻采集卡組 | 增加:TOD,NER,NEI,NEFD,NEP,D* | 寬帶鹵素光源,色溫光譜2856K,400-1000nm波段 | 日/夜:0.0001到 | 增加:3D噪聲、均勻性、放大、NPSD、差像素、失真、信噪比、響應函數 | Simterm,Mosot,Movis | ||||
2000cd/m2 |