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產(chǎn)品型號TYKJCSY-GLJT01
品 牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海
更新時間:2015-10-20 17:05:38瀏覽次數(shù):4298次
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TYKJCSY-GLJT01 激光多功能光電測量綜合實驗儀|傳感器與檢測技術(shù)實訓(xùn)系列用于儀器科學(xué),計量測試專業(yè),自動控制專業(yè)以及物理專業(yè)等課程教學(xué)。其特點是實驗內(nèi)容新穎,功能多樣。通過實驗指導(dǎo)書提供的數(shù)十種實驗,能完成包括激光、散斑、衍射、光電、共焦、光纖、納米、圖像、偏振等多種*測試技術(shù)的實驗。
一、系統(tǒng)組成
TYKJCSY-GLJT01 主要由下列八部分系統(tǒng)組成:
1、激光散斑干涉系統(tǒng)
2、泰曼-格林干涉系統(tǒng)
3、激光衍射計量系統(tǒng)
4、激光共焦測量系統(tǒng)
5、納米測量光學(xué)系統(tǒng)
6、光學(xué)傅立葉變換及光信息處理系統(tǒng)
7、光纖傳感系統(tǒng)
8、幾何光學(xué)實驗系統(tǒng)
二、光電實驗臺硬件部分說明
復(fù)用光學(xué)平臺布置下列器件:激光器 、衰減器、定向孔、成像透鏡 、目鏡、可調(diào)光闌 、光電接收器 、導(dǎo)軌、直角棱鏡 、傅氏透鏡、五維調(diào)節(jié)架、光纖分束器 、光纖、移動反射鏡、移動分光鏡、反射鏡 、物鏡、準(zhǔn)直透鏡、分光棱鏡、共焦顯微鏡、多功能試件夾及組合工作臺、外置式光纖傳感器 、內(nèi)置式光纖傳感器 、光纖夾持器、帶壓電陶瓷的組合工作臺、衍射試件平臺、備用試件架等組成
三、光電處理與顯示
光電與計算機處理部分由圖所示。上述光信息經(jīng)CMOS圖像系統(tǒng)轉(zhuǎn)換成光電信號,再經(jīng)模/數(shù)變換(A/D)形成數(shù)字信號,將此數(shù)字信號經(jīng)USB接口進入計算機作處理,完成實驗顯示及相應(yīng)實驗的計算定量,在軟件的操作下實現(xiàn)所有實驗。
軟件使用與操作
激光多功能光電測試實驗儀配套軟件是基于WINDOWS操作系統(tǒng)的應(yīng)用軟件,為配合各實驗的順利完成,目前該軟件包主要有兩部分組成:1. 激光多功能光電測試系統(tǒng)實驗儀綜合軟件(Csylaser);2.干涉圖的條紋自動分析軟件(Wave)。
四、儀器配置
1、儀器主機配置
實驗系統(tǒng)主要由光學(xué)平臺、激光系統(tǒng)(He-Ne,波長635.8mm,功率>3mw)、多功能光學(xué)系統(tǒng),CMOS圖像采集系統(tǒng),光纖傳感系統(tǒng)組成。
2、主機配套
實驗系統(tǒng)必須與計算機及相應(yīng)的外圍設(shè)備配套使用,實驗數(shù)據(jù)的操作以及實驗的圖形均在計算機上進行。計算機由用戶自行配置,操作軟件隨實驗儀提供。
五、實驗項目
激光散斑測試實驗
實驗一 激光散斑的性質(zhì)及測量方法
實驗二 面內(nèi)位移及離面位移的散斑測量
實驗三 速度及振動的散斑測量*
實驗四 散斑編碼及圖像處理方法*
實驗五 散斑形變測量
2. 激光干涉測量
實驗七 數(shù)字干涉測量三維面形
實驗八 精密位移測量的干涉測量的方法
實驗九 數(shù)字干涉測量光學(xué)系統(tǒng)波差
實驗十 泰曼-格林干涉實驗
實驗十一 采用泰曼-格林?jǐn)?shù)字干涉的光學(xué)玻璃均勻性測量
3. 激光衍射測量
實驗十二 狹縫縫寬的衍射精密測量
實驗十三 巴俾特原理驗證 細(xì)絲直徑測量
實驗十四 變形的全場衍射測量
4. 激光共焦三維測量
實驗十六 共焦顯微鏡的測量原理及相關(guān)技術(shù)實驗
實驗十七 三維形貌的共焦測量
5. 納米測量系統(tǒng)及演示實驗
實驗十八 基于筆束激光干涉的納米測量原理實驗
實驗十九 位移的納米量級測量方法
實驗二十 微弱振動的納米測量*
6.光學(xué)傅立葉變換及光信息處理方法
實驗二十一 圖形的傅立葉變換及頻譜分析
實驗二十二傅立葉逆傅立葉變換及光學(xué)4F系統(tǒng)
實驗二十三光信息處理-高通濾波、低通濾波、帶通濾波
7. 光纖傳感技術(shù)
實驗二十三光纖單元技術(shù):分束器、耦合器、光纖接頭、
實驗二十四SM光纖、PM光纖的原理和性能演示
實驗二十五光纖干涉?zhèn)鞲邢到y(tǒng)實驗
實驗二十六光纖馬赫-澤德系統(tǒng)干涉系統(tǒng)
實驗二十七光纖傳感-精密溫度測量
實驗二十八光纖傳感-精密壓力標(biāo)定及測量
8. 幾何光學(xué)實驗
實驗二十九薄透鏡成像實驗
實驗三十 物距像距法、共軛法薄透鏡焦距測量
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