LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀測量意義

在高功率激光系統(tǒng)中，光學(xué)鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會(huì)引起以下熱透鏡效應(yīng)進(jìn)而產(chǎn)生一系列問題：
1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化
2.波前畸變
3.退偏
4.膜層吸收是影響薄膜損傷閾值 的一個(gè)重要指標(biāo)

原理示意圖

此系統(tǒng)采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)，用于測量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強(qiáng)激光照射下，材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象（熱透鏡效應(yīng)），當(dāng)一束探測光經(jīng)過“熱透鏡"效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移，通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。

LID技術(shù)參數(shù)一覽表

LID與PCI比較一覽表

LID校準(zhǔn)-電極校準(zhǔn)

LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀

采用電極校準(zhǔn)得出校正因子Fcal， Ilid 為信號強(qiáng)度，Pl 為pump光功率。

特點(diǎn)：是無需了解樣品材料的特性，便可提供獨(dú)立校準(zhǔn)。如果改變光熱偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)裝置，需要客戶自己插入和連接校準(zhǔn)樣品，利用軟件完成自動(dòng)校準(zhǔn)。